[发明专利]一种湿度传感器响应与恢复时间测量装置及方法

权利要求书

1.一种湿度传感器响应与恢复时间测量方法，其特征在于：所述测量方法使用湿度传感器响应与恢复时间测量装置，所述湿度传感器响应与恢复时间测量装置包括外箱体、内箱体、湿度发生装置及湿度补偿装置，所述内箱体设置在外箱体内，所述内箱体内设置有驱动组件和用于放置待测传感器的测试支架，所述内箱体的侧壁上开设有天窗，所述驱动组件带动测试支架从所述天窗进出所述内箱体和外箱体；

设置外箱体和内箱体不同的湿度条件，将待测传感器放置在测试支架上，通过驱动组件带动测试支架进出内箱体和外箱体，从而提供湿度阶跃条件；持续采集待测湿度传感器的输出值，按照响应与恢复时间的定义，计算得到待测湿度传感器的响应与恢复时间；采集内、外箱体湿度差、测试温度、驱动杆升降速度得到响应时间补偿公式，所述响应时间补偿公式为：

其中，ΔTs为需补偿的响应与恢复时间，Ka为实验室测得补偿系数，Kt为腔体的体积系数，XRH为内外腔体的湿度差异，T为腔体温度，Vs为驱动杆的升降速度；

将响应时间补偿公式与计算得到的响应与恢复时间结合，得到理想化的响应与恢复时间。

2.根据权利要求1所述的湿度传感器响应与恢复时间测量方法，其特征在于：所述湿度发生装置包括干气体发生单元和湿气体发生单元，所述干气体发生单元和湿气体发生单元均通过不同的管路分别与内箱体和外箱体连通，能够对内、外箱体进行独立的湿度控制，创造低湿到高湿或高湿到低湿的响应与恢复时间测量条件。

3.根据权利要求1所述的湿度传感器响应与恢复时间测量方法，其特征在于：所述测试支架包括密封盖、密封样品台和用于连接密封盖、密封样品台的支撑架，当测试支架位于所述内箱体内部时，所述密封盖封堵所述天窗，使所述内箱体处于密封状态；当测试支架位于所述内箱体外部时，所述密封样品台封堵所述天窗，同样使所述内箱体处于密封状态。

4.根据权利要求3所述的湿度传感器响应与恢复时间测量方法，其特征在于：所述测试支架的密封盖和密封样品台外周设置有硅胶密封条，在响应与恢复时间测量过程中能够与天窗紧密接触，保证内、外箱体的气体隔离。

5.根据权利要求1所述的湿度传感器响应与恢复时间测量方法，其特征在于：所述外箱体内还设置有温度调节组件和温度检测传感器，所述温度调节组件包括制冷单元、制热单元，所述温度调节组件为湿度传感器响应与恢复时间测量提供不同的测试温度。

6.根据权利要求1所述的湿度传感器响应与恢复时间测量方法，其特征在于：所述外箱体的一侧设置有推拉门，所述推拉门的一端铰接在所述外箱体上，所述推拉门的另一端通过弹簧锁锁合在外箱体上。

7.根据权利要求6所述的湿度传感器响应与恢复时间测量方法，其特征在于：所述推拉门上设置有观察窗。

8.根据权利要求1所述的湿度传感器响应与恢复时间测量方法，其特征在于：所述外箱体外还设置有可视化单元和输入单元。