[发明专利]GaN功率器件静态参数的自动测试系统及其测试方法在审
申请号: | 202110429972.2 | 申请日: | 2021-04-21 |
公开(公告)号: | CN113189467A | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 陈丽萍;柳永胜;陈辉;程新 | 申请(专利权)人: | 苏州英嘉通半导体有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/01 |
代理公司: | 南京聚匠知识产权代理有限公司 32339 | 代理人: | 刘囝 |
地址: | 215100 江苏省苏州市相城区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | gan 功率 器件 静态 参数 自动 测试 系统 及其 方法 | ||
1.一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统,其特征在于,包括:
测试仪器,与测试板、串口连接,所述测试仪器接收串口传输的信号,并根据接收的信号信息提供给测试板对应的电压、电流;所述测试仪器对测试板的输出电压、电流信号进行测量,并将测量结果传输至串口;
测试板,与所述测试仪器连接,在测试仪器提供的电压、电流下工作,工作完成后的输出结果由测试仪器进行测量;
串口,与测试仪器、上位机连接,串联所述测量仪器和所述上位机;
上位机,通过所述串口,控制所述测试仪器的输出电压、电流,并读取所述测试仪器的输入电压、电流进行数据处理。
2.根据权利要求1所述的一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统,其特征在于,所述测试仪器为可编程控制的数字源表。
3.根据权利要求1所述的一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统,其特征在于,所述测试板包括测试板本体、固定安装在测试板本体上用于放置待测试芯片的负载测试座和用于与所述测量仪器接线的插座。
4.根据权利要求1所述的一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统,其特征在于,所述串口为RS232C串口。
5.根据权利要求1所述的一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统,其特征在于,所述上位机内的编程控制软件基于labview开发,通过将所有常规静态参数测试内容的测试程序预先编好,在控制软件操作界面设定测试项输入框、测试使能勾选按钮、测试参数输入框和测试门限输入框,在测试项输入框中输入已预编程好的一个或多个测试项目名称,并勾选测试使能勾选按钮,然后在对应的测试参数和测试门限输入框中输入需要的数值。
6.根据权利要求5所述的一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统,其特征在于,所述上位机编程控制软件操作界面设有数据保存勾选按钮和文件路径选择按钮,若勾选数据保存按钮,则测试前点击文件路径选择按钮输入数据保存路径和文件名,测试完成后数据会保存到对应的文件中;若不勾选数据保存按钮,则测试完成后测试数据不进行保存。
7.根据权利要求5所述的一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统,其特征在于,所述上位机编程控制软件操作界面设有测试次数输入框,若输入框不输入数值,默认为0,则程序不执行;若输入框输入值为1,则所选定测试项目全部执行一次测试结束;若输入框输入值为n,n为大于1的自然数,则所选定测试项目循环执行n次测试结束。
8.根据权利要求5所述的一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统,其特征在于,所述上位机编程控制软件操作界面设有测试结果指示灯和测试数据显示框,测试完成后,若测试结果在设定的测试门限范围内,则表示测试结果正确,指示灯显示绿色,否则指示灯显示灰色,同时测试数据显示框中会显示当前的测试数据。
9.一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统的测试方法,其特征在于,自动测试系统为权利要求1-8中任意一项权利要求所述的一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统,整个测试方法包括如下步骤:
步骤S1、完成所述测试仪器与所述测试板、所述串口、所述上位机的接线连接,并在测试板的测试座上放置待测试芯片;
步骤S2、开启测试仪器的开关,打开上位机内软件,搜寻到所述测试仪器的串口编号并连接;
步骤S3、在上位机上选择是否需要保存数据;
步骤S4、设定测试的循环次数;
步骤S5、选择需要的测试项,并设定已选择测试项的测试参数和测试门限;
步骤S6、在上位机上点击运行按钮,待运行结束后,观察测试结果指示灯的状态,确认测试结果的正确与否;若测试结果不正确,可查看当前的测试数据,确认测试失效的原因,并对测试失效的芯片进行标记,完成测试。
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