[发明专利]一种基准电流源在审

专利信息
申请号: 202110425289.1 申请日: 2021-04-20
公开(公告)号: CN113282127A 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 程知群;宫庭威;乐超;刘国华 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学富阳电子信息研究院有限公司;杭州电子科技大学
主分类号: G05F1/567 分类号: G05F1/567
代理公司: 杭州昱呈专利代理事务所(普通合伙) 33303 代理人: 雷仕荣
地址: 311400 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基准 电流
【权利要求书】:

1.一种基准电流源,其特征在于,包括偏置电路、基准电流产生电路和输出电路,其中,所述偏置电路与基准电流产生电路和负载分别连接,所述基准电流产生模块的输出与所述输出电路和负载分别连接;

所述基准电流产生电路包括两条支路,每条支路均包括相连接的电流镜和亚阈值管,其中一条支路中还包括一个处于线性区的场效应管M14,其漏端与亚阈值管的源端连接,其栅端连接偏置电压,其源端接地。

2.如权利要求1所述的基准电流源,其特征在于,所述亚阈值管与倒比管公用,调整亚阈值管的长宽比,使其漏端的v_fb点电位连接到场效应管M14的衬底端产生背栅效应,进行温度补偿。

3.如权利要求1所述的基准电流源,其特征在于,对所述场效应管M14的栅端连接的偏置电压进行调节,以调整温度与电流波形的中间点。

4.如权利要求1所述的基准电流源,其特征在于,所述基准电流产生电路的两条支路中的两个电流镜M0和M1宽长比一致,增加一层共源共栅结构,即增加了与场效应管M0和M1宽长比相同的场效应管M0C和M1C,M0和M1失配减小了(gm,M1C+gmb,M1C)*rO,M1C倍,其中gm,M1C为M1C场效应管栅源电压VGS,M1C对漏电流IDS,M1C的跨导,gmb,M1C为M1C场效应管漏源电压VDS,M1C对漏电流IDS,M1C的跨导,rO,M1C为M1C场效应管的等效电阻;

两个电流镜的电流差为:

其中,μP为P型区内的空穴迁移率,COX为栅电容密度,VTHP为P型场效应管的阈值电压,λ为沟道调制系数,VGS,M1为场效应管M1的栅源电压,VD,M2和VD,M3为亚阈值管M2和M3的漏电压,令IDS,M1=IDS,M0,则IDS,M3=IDS,M2;亚阈值管M2和M3的漏电流由下式得到:

其中,IDO为亚阈临界饱和电流,(W/L)2为亚阈值管M2的宽长比,ξ为亚阈斜率因子,VGS,M2为亚阈值管M2的栅源电压,VT为热电压;由于亚阈值管M2和M3的漏源电压VDS都远大于VT,故简化电流公式为:

可得:

其中,(W/L)3为亚阈值管M3的宽长比,VS是一个随温度变化而不随VDD变化的值,其中VS为亚阈值管M2源端和场效应管M14漏端的电压,VDD为电路的电源电压;

处于线性区的场效应管M14的等效电阻为:

其中,μn为N型半导体中的电子迁移率,(W/L)14为场效应管M14的宽长比,VTHN为N型场效应管的阈值电压,温度不变时,该场效应管M14的等效电阻为固定值;

将所有与温度有关的系数用以温度为自变量的函数表示出来,得下式:

其中,Kμn为μn的温度系数,T为温度,k为常数,q为单位电荷量,VGS,M14为负载场效应管M14的栅源电压,VTH0为M14源端位置下反型沟道的开启电压,γ为衬底调制系数,Nsub为衬底掺杂浓度,ni为本征载流子浓度;

VBS,M14关于温度的等效函数为VBS,M14=a-bT (9),

其中,VBS,M14为场效应管M14衬底和源端的电压差,a=340mV,b=1.75×10-3mV/℃;

当VBS,M14=0时,输出电流对温度的偏导函数如下式:

其中Iout为场效应管M14的漏电流IDS,M14,也为最终的输出电流;A为输出电流对温度的偏导函数中T0.5项的系数,且A为正数;B为输出电流对温度的偏导函数中T1.5项的系数,且B为正数;且式(10)为增函数;

当VBS,M14!=0,将式(9)带入式(8),再对温度偏微分得下式:

其中C为引入温度补偿后,输出电流对温度的偏导函数中T1.5项的系数与B的差,且C-B0,-AT0.5项为增函数,(C-B)T1.5项为减函数,式(11)应呈现先增后减再增的趋势。

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