[发明专利]一种程序测试方法和装置

说明书

本申请提供了一种程序测试方法和装置，所述方法包括：获取第N次修改后的程序对应的漏测概率测试用例集M_N；根据第N+1次对程序修改的语句的类型，以及M_N确定第N+1次修改后的程序对应的漏测概率测试用例集M_N+1；获取M_N+1中漏测概率大于预设阈值的测试用例组成回归测试用例集；使用所述回归测试用例集对第N+1次修改后的程序进行测试；其中，漏测概率测试用例集包括测试用例，以及测试用例对应的漏测概率。该方法能够减少测试时间，提高测试效率。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种程序测试方法和装置。

背景技术

在需求开发过程中，经常会出现频繁的迭代需求，代码经常会修改，然后就需要测试人员对修改后的代码进行回归测试，来避免修改的代码会产生新的问题。

针对只进行功能优化或功能错误修改的场景，现有技术直接使用与修改程序之前相同的测试用例集进行回归测试。

在实现本申请的过程中，发明人发现每次修改程序后，使用所有测试用例进行回归测试，测试时间较长，导致测试效率低下。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种程序测试方法和装置，能够减少测试时间，提高测试效率。

为解决上述技术问题，本申请的技术方案是这样实现的：

在一个实施例中，提供了一种程序测试方法，所述方法包括：

获取第N次修改后的程序对应的漏测概率测试用例集M_N；其中，漏测概率测试用例集包括测试用例，以及测试用例对应的漏测概率；

根据第N+1次对程序修改的语句的类型，以及M_N确定第N+1次修改后的程序对应的漏测概率测试用例集M_N+1；

获取M_N+1中漏测概率大于预设阈值的测试用例组成回归测试用例集；

使用所述回归测试用例集对第N+1次修改后的程序进行测试。

在另一个实施例中，提供了一种程序测试装置，所述装置包括：第一获取单元、确定单元、第二获取单元和测试单元；

所述第一获取单元，用于获取第N次修改后的程序对应的漏测概率测试用例集M_N；其中，漏测概率测试用例集包括测试用例，以及测试用例对应的漏测概率；

所述确定单元，用于根据第N+1次对程序修改的语句的类型，以及所述第一获取单元获取的M_N确定第N+1次修改后的程序对应的漏测概率测试用例集M_N+1；

所述第二获取单元，用于获取所述确定单元确定的M_N+1中漏测概率大于预设阈值的测试用例组成回归测试用例集；

所述测试单元，用于使用所述第二获取单元获取的回归测试用例集对第N+1次修改后的程序进行测试。

在另一个实施例中，提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现所述程序测试方法的步骤。

在另一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现所述程序测试方法的步骤。

由上面的技术方案可见，上述实施例中获取修改后的程序的漏测概率测试用例集，获取其中漏测概率大于预设概率的测试用例组成回归测试用例集，并使用所述回归测试用例集测试修改后的程序。该方案能够减少测试时间，提高测试效率。

附图说明