[发明专利]用于光检测阵列复用的系统及其方法

权利要求书

1.一种粒子分析仪，其包括：

光源，其包括：

第一激光器，其被配置成在第一位置处照射流；和

第二激光器，其被配置成在第二位置处照射所述流；和

光检测系统，其位于所述粒子分析仪的外壳中，所述光检测系统包括：

单个光收集部件，其被配置成收集来自所述流的光；和

单个光电检测器阵列，其包括多个光电检测器，所述多个光电检测器被配置成检测通过所述单个光收集部件传输的来自激光器的光。

2.根据权利要求1所述的粒子分析仪，其中，所述第二激光器被配置成在所述第一激光器下游的位置处照射流。

3.根据权利要求2所述的粒子分析仪，其中，所述第一激光器和第二激光器被配置成在彼此间隔10μm或更小的位置处照射流。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的粒子分析仪，其中，所述光收集部件是单光纤。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的粒子分析仪，其中，所述光电检测器阵列中的光电检测器被配置成分别在不同时间检测光。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的粒子分析仪，其中，所述光电检测器阵列中的每个光电检测器被配置成差分地检测来自激光器中的一个或更多个的光。

7.根据权利要求1-5中任一项所述的粒子分析仪，其中，所述光电检测器阵列中的每个光电检测器被配置成检测一组或更多组预定波长的光。

8.根据权利要求7所述的粒子分析仪，其中，每组波长的光包括50个不同波长或更少。

9.根据权利要求7所述的粒子分析仪，其中，每组波长的光包括25个不同波长或更少。

10.根据权利要求1-9中任一项所述的粒子分析仪，其中，所述光电检测器阵列中的每个光电检测器是混合光电检测器，所述混合光电检测器包括与雪崩二极管集成的光电阴极。