[发明专利]孔径测量方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种孔径测量方法，其特征在于，包括：

获取待检测样品的T1-T2脉冲序列和待检测样品的D-T2脉冲序列；

根据所述待检测样品的T1-T2脉冲序列和所述待检测样品的D-T2脉冲序列测量样品，得到待检测样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度；

根据预设反演模型，对所述待检测样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度进行反演，确定所述待检测样品的孔径与弛豫率相关谱，其中，所述预设反演模型根据Bloch-Torrey相关理论和实验样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度确定；

根据所述孔径与弛豫率相关谱，确定所述待检测样品的孔径大小及弛豫率；

所述根据所述待检测样品的T1-T2脉冲序列和所述待检测样品的D-T2脉冲序列测量样品，得到待检测样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度，包括：

采用高均匀度的外加磁场，对所述待检测样品进行核磁共振实验，得到待检测样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度；

所述根据预设反演模型，对所述待检测样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度进行反演，确定所述待检测样品的孔径与弛豫率相关谱，包括：

将待检测样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度转化为一维列矩阵，采用非负最小二乘法反演得到待检测样品的孔径-弛豫率相关谱；

在所述根据预设反演模型，对所述待检测样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度进行反演，确定所述待检测样品的孔径和弛豫率相关谱之前，还包括：

获取实验样品的T1-T2脉冲序列和实验样品的D-T2脉冲序列；

根据所述实验样品的T1-T2脉冲序列和所述实验样品的D-T2脉冲序列计算得到所述实验样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度；根据Bloch-Torrey相关理论和所述实验样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度确定预设反演模型；

所述根据Bloch-Torrey相关理论和所述实验样品的T1-T2信号强度及D-T2信号强度确定预设反演模型，包括：

分别设置多个孔径分布值和多个弛豫率分布值；

对每个孔径分布值和弛豫率分布值，在所述实验样品的T1-T2脉冲序列和所述实验样品的D-T2脉冲序列中对数布点m个t1和n个t2，以时间空间分数阶Bloch-Torrey方程在平板孔隙中求解得到的多模态磁化强度衰减为基础，建立多个磁化强度衰减矩阵；

根据所述多个磁化强度衰减矩阵，建立预设反演模型；

所述对每个孔径分布值和弛豫率分布值，在所述实验样品的T1-T2脉冲序列和所述实验样品的D-T2脉冲序列中对数布点m个t1和n个t2，以时间空间分数阶Bloch-Torrey方程在平板孔隙中求解得到的多模态磁化强度衰减为基础，建立多个磁化强度衰减矩阵，包括：

获取孔径初始值和驰豫率初始值，分别对数布点m个t1和n个t2，计算得到二维的初始磁化强度衰减矩阵，通过如下公式，以每一行为单位将该初始磁化强度衰减矩阵拼接为一维列矩阵：

分别改变孔径和弛豫率的大小，以对数布点q个值，计算不同扩散状态下的形式为一维列矩阵的磁化强度衰减矩阵，得到所述多个磁化强度衰减矩阵；

所述根据所述多个磁化强度衰减矩阵，建立预设反演模型，包括：

将多个形式为一维列矩阵的磁化强度衰减矩阵复合为二维的反演系数矩阵A，反演系数矩阵A如下所示：

反演系数矩阵A为所述预设反演模型；

其中，T1-T2、D-T2信号强度的计算公式如下：

其中，M(t₁,t₂)为信号强度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每个孔径分布值和弛豫率分布值，在所述实验样品的T1-T2脉冲序列和所述实验样品的D-T2脉冲序列中对数布点m个t1和n个t2，计算得到多个磁化强度衰减矩阵，还包括：

在T1和D的测量中采取对数非线性布点方式，T2测量中采取线性布点方式。