[发明专利]一种PCIE接口正确性测试方法

权利要求书

1. 一种PCIE 接口正确性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、A方在发送数据前，执行以下操作：

分别采用按序填充循环右移、固定数值、跳跃填充循环右移的布数方法对发送缓冲区进行填充；

填充消息描述符，将其中的消息操作类型域分别赋值为Send/Recv、Rdma Write、RdmaRead操作类型；

填充消息描述符，将其中的消息长度域赋值为不同的字节大小，将其中的数据起始地址域按照相对cache行不同偏移大小进行赋值，cache行内的偏移从0到（cache行大小 – 1）字节；

S2、A方开始向B方发送数据：

对于Send/Recv操作类型，A方投递一个Send/Recv发送请求发送数据；

对于Rdma Write、Rdma Read操作类型，A方投递一个RDMA Write或Rdma Read请求开始发送数据；

当数据发送完成后，A方向B方发送一条通知消息通知发送完成；

S3、B方等待接收数据：

对于Send/Recv操作类型，B方收到A方发来的数据后，进行数据正确性校验，校验完成后，B方根据S1所述布数方法填充发送缓冲区，并向A方投递发送请求发送数据；

对于Rdma Write、Rdma Read操作类型，B方接收到A方发来的通知消息后， B方进行数据正确性校验，然后根据S1所述布数方法对发送缓冲区进行布数，并投递一个RDMA Write或Rdma Read请求开始向A方发送数据，当发送完成后，同样向A方发送一条通知；

S4、A方等待接收B方发来的数据，在收到B方发送的数据后，进行数据正确性校验；

S7、回到S1，直到遍历完成所有布数方式、操作类型、消息长度和消息偏移测试。

2. 根据权利要求1所述的一种PCIE 接口正确性测试方法，其特征在于：在S1中的布数阶段，采用以下3种方式进行布数：

当对发送数据缓冲区进行布数时，采用按序填充、循环右移的布数方法，具体流程如下：将数字0，1，2，．．．，255按顺序填入发送缓冲区，每迭代一次，数据位置右移一位；

当对发送数据缓冲区进行布数时，采用固定数值的布数方法，具体流程如下：在任何一遍迭代中，为每个缓冲区位置都填充一个固定的数值；

当对发送数据缓冲区进行布数时，采用跳跃填充、循环右移的布数方法，具体流程如下：将数字0，1，2，．．．，255按一定的步长间隔填入发送缓冲区，每迭代一次，数据位置右移一位。

3. 根据权利要求1所述的一种PCIE 接口正确性测试方法，其特征在于：在S1中的消息长度域填充阶段，采用如下方式选择消息长度：

消息长度从1字节到1K字节时，每个消息长度都进行遍历；

消息长度大于1KB时，每次测试消息长度增加一个固定值，如每次增加9999字节。