[发明专利]一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质

权利要求书

1.一种波形参数的调整方法，其特征在于，应用于示波器，包括：

获取测试波形；

计算所述测试波形的特性值，所述特性值包括幅值平均值和幅值最大值；

若当前所述幅值最大值大于第一预设倍数与所述幅值平均值的乘积，设置第二预设倍数与所述幅值最大值的乘积作为测试波形的触发值；若当前所述幅值最大值小于或等于第一预设倍数与所述幅值平均值的乘积，设置第四预设倍数与所述幅值最大值的乘积作为测试波形的触发值；

等待第一预设时长后，停止获取测试波形；

统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；

根据所述波形个数计算测试波形的周期；

将第三预设倍数与所述周期的乘积设置为测试波形的横轴的刻度间隔。

2.根据权利要求1所述的波形参数的调整方法，其特征在于，在将第三预设倍数与所述周期的乘积设置为测试波形的横轴的刻度间隔之后，还包括：

再次获取测试波形；

等待第一预设时长后，停止获取测试波形；

再次执行统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据所述波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数与所述周期的乘积设置为测试波形的横轴的刻度间隔，以对测试波形的横轴的刻度间隔进行优化。

3.根据权利要求1或2所述的波形参数的调整方法，其特征在于，还包括：

将当前所述幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数与所述幅值平均值的乘积设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

4.根据权利要求3所述的波形参数的调整方法，其特征在于，在将所述幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数与所述幅值平均值的乘积设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，在停止获取测试波形之前，还包括：

多次重复执行将当前所述幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数与所述幅值平均值的乘积设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的原点和测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。

5.根据权利要求4所述的波形参数的调整方法，其特征在于，还包括：

获取测试波形峰峰值；

将第六预设倍数与所述峰峰值的乘积设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

6.根据权利要求5所述的波形参数的调整方法，其特征在于，在将第六预设倍数与所述峰峰值的乘积设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，还包括：

多次重复执行获取测试波形峰峰值，将第六预设倍数与所述峰峰值的乘积设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。

7.一种波形参数的调整装置，其特征在于，应用于示波器，包括：

获取单元，用于获取测试波形；

第一计算单元，用于计算所述测试波形的特性值，所述特性值包括幅值平均值和幅值最大值；

第一设置单元，用于若当前所述幅值最大值大于第一预设倍数与所述幅值平均值的乘积，设置第二预设倍数与所述幅值最大值的乘积作为测试波形的触发值；若当前所述幅值最大值小于或等于第一预设倍数与所述幅值平均值的乘积，设置第四预设倍数与所述幅值最大值的乘积作为测试波形的触发值；

停止单元，用于等待第一预设时长后，停止获取测试波形；

统计单元，用于统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；

第二计算单元，用于根据所述波形个数计算测试波形的周期；

第二设置单元，用于将第三预设倍数与所述周期的乘积设置为测试波形的横轴的刻度间隔。

8.一种示波器，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如权利要求1-6任意一项所述的波形参数的调整方法。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行如权利要求1-6任意一项所述的波形参数的调整方法。