[发明专利]一种新型APD校正算法

说明书

本发明公开了一种新型APD校正算法，包括以下步骤：步骤一，使用准备；步骤二，待测模块安装；步骤三，光纤跳线插入；步骤四，软件APD校正；步骤五，结束整理；所述步骤一中，通过恒温箱稳定模块温度并提供常低高温调试环境，所述步骤三中，直流电源为光源模块与待测模块供电，通过电调衰减器控制输入被测模块功率，通过BERT模型提供高频信号并提供误码率数据，所述步骤四中，通过PC机控制衰减器、调节APD偏压及读取BERT误码率；该发明安全、可靠，使用此校正方法，是为了减少了高低温下多次查找误码率的时间，直接查找VBR值效率高；且通过该校正方法，可以将偏差控制在0.2V以内，此偏差对APD的性能影响非常小。

技术领域

本发明涉及APD校正算法技术领域，具体为一种新型APD校正算法。

背景技术

雪崩二极管，是光接收器件，主要作用是检测经过传输的弱光信号转换为电信号，其工作原理是雪崩光电二极管吸收光子会产生电子-空穴对，在高反偏电压产生的强电场作用下电子-空穴对被加速，从而获得足够的能量，然后与晶格发生碰撞，形成连锁效应，结果形成大量的电子-空穴对，引发雪崩现象，电流成指数增长；所以APD工作条件是需要有一定的反向偏压才能产生相应的倍增效应，而APD也存在击穿电压，当Vapd=VBR时，此时雪崩增益无穷大，同时雪崩噪声也变得非常大，这种情况视为APD击穿，当然使用时必须VapdVBR；无论是VBR值还是还是最佳Vapd值都是随温度变化而变化，而VBR值与Vapd的变化趋势相近，只是截距相差较大；因此，现阶段需要发明出一种新型APD校正算法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种新型APD校正算法，以解决上述背景技术中提出测试校正耗时和误差比较大的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种新型APD校正算法，包括以下步骤：步骤一，使用准备；步骤二，待测模块安装；步骤三，光纤跳线插入；步骤四，软件APD校正；步骤五，结束整理；

其中在上述步骤一中，打开PC机和恒温箱，并打开配套APD校正的控制软件和BERT模型，检查设备，保证各个设备和软件都处于正常工作状态；

其中在上述步骤二中，将需要测试校正的雪崩光电二极管器件被测模块插入到测试板上，并保证插入的稳定性；

其中在上述步骤三中，将电调衰减器输出端光纤跳线插入雪崩光电二极管器件被测模块，并将BERT模型的输入端插入到测试板上，将BERT模型的输出端插入到PC机上，然后接通直流电源；

其中在上述步骤四中，点击APD校正软件，由软件自动完成APD偏压校正；

其中在上述步骤五中，进行三温校正模块校正完成后，拔下雪崩光电二极管器件被测模块和电调衰减器输出端上的光纤跳线，完成测试校正结束后的整理工作。

优选的，所述步骤一中，通过恒温箱稳定模块温度并提供常低高温调试环境。

优选的，所述步骤二中，测试板为光源与被测模块供电。

优选的，所述步骤三中，直流电源为光源模块与待测模块供电，通过电调衰减器控制输入被测模块功率，通过BERT模型提供高频信号并提供误码率数据。

优选的，所述步骤四中，通过PC机控制衰减器、调节APD偏压及读取BERT误码率。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：该发明安全、可靠，使用此校正方法，是为了减少了高低温下多次查找误码率的时间，直接查找VBR值效率高；且通过该校正方法，可以将偏差控制在0.2V以内，此偏差对APD的性能影响非常小。

附图说明

图1为本发明的温度-偏压实验示意图；

图2为本发明的校正系统示意图；

图3为本发明的方法流程图。

具体实施方式