[发明专利]判断次生加大发育期次的方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请提供的一种判断次生加大发育期次的方法、装置、设备及存储介质，包括：沿岩石样本中岩石颗粒边界的方向进行电子探针打点，确定所述岩石样本中各个打点位置的电子探针数据；基于所述电子探针数据确定各个打点位置对应的岩石样本的化学组分的含量信息；基于各个打点位置对应的岩石样本的化学组分的含量信息确定所述岩石样本的次生加大发育期次。

技术领域

本申请涉及石油技术勘探技术领域，特别地涉及一种判断次生加大发育期次的方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在进行砂岩的储层特征分析时，需要进行储层的成岩作用分析，尤其是成岩胶结期次，以此来分析储层的演化过程以及成岩序列，对于石英次生加大胶结的期次，研究人员通常有两种进行方法判定胶结期次。第一种方法通过光学显微镜观察石英次生加大形态特征，第二种方法通过包裹体均一温度，但是这两种方法在应用时，都存在部分地区的成岩胶结期次分析时的不适用的情况，都具有一定的局限性，可能出现判断误差大的情况，使得成岩分析结果具有不确定性。

发明内容

针对上述问题，本申请提供一种判断次生加大发育期次的方法、装置、设备及存储介质。

本申请提供了一种判断次生加大发育期次的方法，包括：

沿岩石样本中岩石颗粒边界的方向进行电子探针打点，确定所述岩石样本中各个打点位置的电子探针数据；

基于所述电子探针数据确定各个打点位置对应的岩石样本的化学组分的含量信息；

基于各个打点位置对应的岩石样本的化学组分的含量信息确定所述岩石样本的次生加大发育期次。

在一些实施例中，所述方法还包括：

获取设置信息，所述设置信息用于设置电子探针的打点距离和打点个数；

所述沿岩石样本中岩石颗粒边界的方向进行电子探针打点，包括：

根据所述打点距离与所述打点个数沿岩石样本中岩石颗粒边界的方向进行电子探针打点。

在一些实施例中，所述方法还包括：

确定所述岩石样本的厚度；

基于所述岩石样本的厚度与历史测量数据，确定打点距离和打点个数，其中，所述历史测量数据包括岩石样本的厚度与打点距离、打点个数的对应关系；

所述沿岩石样本中岩石颗粒边界的方向进行电子探针打点，包括：

根据所述打点距离与所述打点个数沿岩石样本中岩石颗粒边界的方向进行电子探针打点。

在一些实施例中，所述基于各个打点位置对应的岩石样本的化学组分的含量信息确定所述岩石样本的次生加大发育期次，包括：

确定各个打点位置对应的岩石样本的目标化学组分的含量信息，其中，所述目标化学组分是从各个化学组分中确定的；

基于所述目标化学组分的含量信息，确定含量变化曲线；

基于所述含量变化曲线确定所述岩石样本的次生加大发育期次。

在一些实施例中，所述基于所述含量变化曲线确定所述岩石样本的次生加大发育期次，包括：

基于含量变化曲线依次确定相邻两个打点位置之间的含量变化数据；

确定所述含量变化数据中大于预设阈值的目标含量变化数据；

基于所述目标变化数据确定次生加大发育期次。

在一些实施例中，所述方法还包括：

基于所述次生加大发育期次确定所述矿物样本所在的储层的成岩序列。