[发明专利]记忆设备识别时间的统计方法、模组及存储介质

权利要求书

1.一种记忆设备识别时间的统计方法，其特征在于，所述方法包括：

确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；

确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；

基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间，包括：轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化；在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，所述信息发生变化。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述相关信息至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量；

所述方法还包括：输出所述相关信息。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：

确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式；

在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：

轮询检测所述插槽是否产生高低电平变化；

在所述插槽产生高低电平变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；

轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；

在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；

确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述识别时间统计模式具体可以通过以下方式预先设置：

确定所述记忆设备的记忆设备容量，并基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式，包括：

判断所述记忆设备容量是否超过预设容量阈值；

在所述记忆设备容量超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式；

在所述记忆设备容量未超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。