[发明专利]基于功率合成效率理论的毫米波相位变化检测方法及系统有效
申请号: | 202110340587.0 | 申请日: | 2021-03-30 |
公开(公告)号: | CN113092876B | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 殷勇;陈良萍;刘海霞;王彬;李海龙;蒙林 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 邓黎 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 功率 合成 效率 理论 毫米波 相位 变化 检测 方法 系统 | ||
1.一种基于功率合成效率理论的毫米波相位变化检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1.选择两路同频的毫米波信号,第一路毫米波信号经过校准子系统后得到参考信号第二路毫米波信号经过待测子系统后得到预测试信号P'Test0;
S2.分别检测参考信号和预测试信号P'Test0的幅度差和相位差,保证两路信号的初始幅度差D0=0dB、初始相位差为
S3.将参考信号和预测试信号P'Test0进行相干合成,得到初始输出信号Pout0,检测初始输出信号Pout0的功率值,计算得到初始合成效率η0;
S4.根据实际应用情况,当待测子系统发生改变后,重复步骤S1得到实际参考信号P'ref1和待测信号P'Test1,调节校准子系统电路保证此时的实际参考信号P'ref1的相位不变,且实际参考信号P'ref1和待测信号P'Test1的幅度差为D0,然后将实际参考信号P'ref1和待测信号P'Test1进行相干合成,得到待测输出信号Pout1;
S5.检测待测输出信号Pout1的功率值并计算得到实际合成效率η1,若实际合成效率η1与初始合成效率η0的值不同,则表示参考信号与待测信号的相位差发生变化,若实际合成效率η1与初始合成效率η0的值相同,则表示参考信号与测试信号的相位差未发生变化。
2.一种基于如权利要求1所述的毫米波相位变化检测方法的系统,包括功率合成器、检波器;
所述功率合成器用于将参考信号和测试信号P'Test0进行相干合成,得到初始输出信号Pout0;以及将实际参考信号P'ref1和待测信号P'Test1进行相干合成,得到待测输出信号Pout1;
所述检波器用于检测初始输出信号Pout0和待测输出信号Pout1的功率值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110340587.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。