[发明专利]一种激光功率检测装置及其测量方法

权利要求书

1.一种激光功率检测装置，其特征在于，基于激光辐照光纤微结构时材料折射率发生改变，引起光纤微结构光谱特性改变的原理检测激光强度。

2.一种激光功率检测装置，其特征在于，包括基座、光学元件和光纤微结构光谱测试系统。所述光学元件包括平凸柱面透镜和光纤微结构。所述基座包括：固定平凸柱面透镜的镜架，固定光纤的光纤夹具，调整控制光纤位置和角度的三维手动平台，连接镜架、光纤夹具和三维手动平台的基板，所述光纤微结构光谱测试系统包括：信号光源和光谱分析仪。

3.根据权利要求1所述的一种激光功率检测装置，其特征在于，所述光纤微结构可以是长周期光纤光栅、光纤布拉格光栅和光纤马赫增德尔干涉仪等各类型结构；所述光纤可以是单模光纤、多模光纤、保偏光纤等类型光纤；所述光纤材料可以是石英、塑料、蓝宝石等材料。

4.根据权利要求2所述的激光功率检测装置，其特征在于，所述平凸柱面透镜和光纤微结构的距离应等于平凸柱面透镜的焦距。

5.根据权利要求2所述的激光功率检测装置，其特征在于，平凸柱面透镜中心线与光纤轴线平行且二者高度一致。

6.根据权利要求2所述的激光功率检测装置，其特征在于，三维手动平台由旋转台、升降台和平移台组成，平移台的位移方向与光纤轴线平行。

7.一种根据权利要求1-6任一项所述的激光功率检测装置的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、将所述光纤微结构任一端头通过3dB耦合器分别与信号光源和光谱分析仪连接，并将另一端头用光纤切割刀切平，用光谱分析仪记录未有激光照射时所述光纤微结构光谱的中心波长；

S2、将所述平凸柱面透镜放在镜架上，打开激光并调整所述三维手动平台使激光与柱面透镜在同一水平高度且垂直柱面透镜轴线入射；

S3、所述光纤微结构固定在夹具上，并调节其与所述平凸柱面透镜的相对位置，使其位于平凸柱面透镜的焦点处且光纤轴线与平凸柱面透镜的轴等高平行；

S4、通过光谱分析仪记录激光照射后的光纤微结构的中心波长；

S5、根据绘制的被测激光功率与光纤微结构的中心波长的拟合曲线得到被测激光的功率值。