[发明专利]一种颗粒计数系统、方法及装置

说明书

本申请公开了一种颗粒计数系统、方法、装置及介质，其中系统包括传感器，与传感器连接的ADC，以及与ADC连接的ASIC，其中，ADC用于将传感器采集表征颗粒直径和数量的模拟信号转化为数字信号，并将数字信号发送至ASIC，ASIC用于在根据数字信号判断传感器不存在故障的情况下，利用颗粒算法根据数字信号和与用户需求对应的目标颗粒直径计算对应的目标颗粒数。由于根据目标颗粒直径计算对应的目标颗粒数，因此避免了现有技术中无法按用户需求统计相应直径的颗粒数的问题，此外，在计算目标颗粒数前，还判断了传感器是否存在故障，因此提高了颗粒计算的准确性，提高了用户的使用体验感。

技术领域

本申请涉及芯片技术领域，特别是涉及一种颗粒计数系统、方法及装置。

背景技术

颗粒计数器是一种测量洁净环境中单位体积内尘埃粒子数和粒径分布的仪器，广泛应用于为各省市药检所、血液中心、防疫站、疾控中心、质量监督所等权威机构、电子行业、制药车间、半导体、光学或精密机械加工、塑胶、喷漆、医院、环保、检验所等生产企业和科研部门，用于检测制药车间、科研部门等生产、实验环境中空气的洁净程度，从而降低生产、实验过程中受到颗粒物的污染的问题。

目前，颗粒计数系统主要是采用比较器，通过比较不同颗粒直径的大小分别计算各直径对应颗粒的数量。由于现有的颗粒计数系统能够统计的颗粒的直径是有限的，例如只能统计0.3μm、0.5μm、1.0μm、3.0μm、10.0μm直径的颗粒，无法按用户需求统计直径是0.4μm、0.45μm、0.6μm、0.7μm颗粒的数量，此外，现有的颗粒技术系统无法检测传感器(用于检测颗粒的大小和数量)是否工作异常，因此在颗粒计数系统工作过程中且传感器出现故障时，颗粒计数系统将会继续进行颗粒统计，从而降低了颗粒计算的准确性，降低了用户的使用体验感。

因此，如何提高颗粒计算的准确性，提高用户的使用体验感是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种颗粒计数系统，用于提高颗粒计算的准确性，提高用户的使用体验感。本申请的目的是还提供一种颗粒计数方法及装置。

为解决上述技术问题，本申请提供一种颗粒计数系统，包括传感器，还包括：与所述传感器连接的ADC，以及与所述ADC连接的ASIC；

所述ADC，用于将所述传感器采集表征颗粒直径和数量的模拟信号转化为数字信号；

所述ASIC，用于接收所述数字信号，根据所述数字信号判断所述传感器是否存在故障，如果否，则利用颗粒算法根据所述数字信号和与用户需求对应的目标颗粒直径计算对应的目标颗粒数。

优选的，所述ASIC，还用于在接受到工作指令的情况下，计算所述传感器的使用时间，根据所述使用时间判断所述传感器是否到达使用寿命，如果是，则发送表征更换所述传感器的告警信号。

优选的，还包括：I/O单元，所述I/O单元分别与所述传感器和所述ASIC连接，用于判断所述传感器是否被更换，如果是，则向所述ASIC发送复位信号，以便于所述ASIC根据所述复位信号对所述使用时间进行复位。

优选的，还包括：与所述ASIC连接的多种通信接口，用于数据的传输。

优选的，所述判断所述传感器是否被更换具体为：通过采集的所述传感器的唯一编码判断所述传感器是否被更换。

优选的，还包括：与所述ASIC连接的存储单元，用于存储所述目标颗粒数、所述颗粒算法和所述目标颗粒直径。

为解决上述技术问题，本申请还提供一种颗粒计数方法，应用于如上所述的ASIC，包括：

接收由ADC发送的数字信号；其中，所述数字信号是由传感器采集表征颗粒直径和数量的模拟信号转化得到；