[发明专利]一种含外接激光光源的高级稳态荧光光谱仪

说明书

本发明提供了一种含外接激光光源的高级稳态荧光光谱仪，包括装于光谱仪内部的内置光源以及与所述光谱仪相连的外接激光光源；所述光谱仪内还设有样品室，样品室内装有激发单色器、样品架、发射单色器和检测器；所述内置光源与激发单色器相连，光闸装于所述内置光源与激发单色器之间；所述内置光源和外接激光光源与所述样品架共线，两组光源所在直线与检测器和样品架所在直线垂直；所述发射单色器与检测器相连，检测器外部连接至计算机；本发明通过设置内置光源和外接激光光源两组光源，有效拓展了荧光光谱仪的测试范围，解决了因仪器只有单一光源不能满足部分特殊样品测试分析的难题，结构简单，设计合理。

技术领域

本发明涉及荧光检测设备领域，具体涉及一种含外接激光光源的高级稳态荧光光谱仪。

背景技术

荧光光谱(Photoluminescence Spectroscopy)是研究材料的电子结构和光学性能的有效方法，特别是对于一些缺陷的判断，并且能获得光生载流子的迁移、捕获和复合等信息。稳态瞬态荧光测量系统中的稳态荧光模块由激发光源、单色器、试样架、检测器及读数装置等部件组成。采用的激发光源为75W的氙灯。该灯通常具有较宽的连续输出波长范围，在稳态荧光光谱仪上的应用最多，通常对于分子荧光检测以及光致发光材料的检测都具有较好的信号，在稳态光谱测量中，通过使用光子计数技术，提供最高的微弱信号检出能力，可对荧光物质进行定性检测和定量分析。但是对于荧光信号较弱的半导体固体材料，由于光源经单色器分光后，其光强较弱相应发射谱信号也较弱，这时很难探测到半导体固体材料的微弱荧光信号。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种含外接激光光源的高级稳态荧光光谱仪，有效解决了因仪器只有单一光源不能满足部分特殊样品测试分析的难题，扩展了光谱仪测试范围，操作简单便捷。

为了实现上述目的，本发明采取的技术方案如下：

一种含外接激光光源的高级稳态荧光光谱仪，包括装于光谱仪内部的内置光源以及与所述光谱仪相连的外接激光光源；所述光谱仪内还设有样品室，样品室内固定装有激发单色器、样品架、发射单色器和检测器；所述内置光源与激发单色器相连，光闸装于所述内置光源与激发单色器之间；所述内置光源和外接激光光源与所述样品架共线，两组光源所在直线与检测器和样品架所在直线垂直；所述发射单色器与检测器相连，检测器外部连接至计算机。

进一步，所述内置光源使用时，打开光闸，内置光源发射激发光，首先经激发单色器筛选出特定波长光束，然后经样品架中的样品吸收后辐射发射光，再在经发射单色器筛选出特定波段光束，再进入检测器转化成外部信号，最终在计算机端显示；所述内置光源使用完后，关闭光闸。

进一步，所述光谱仪的外壳面板上开有孔洞；所述外接激光光源配有光纤，光纤穿过孔洞后经固定装置固定于样品室中；所述外接激光光源工作时，外接激光光源发射激发光，首先经光纤导入样品室，然后经样品架中样品吸收后辐射发射光，再经发射单色器筛选出特定波段光束，再进入检测器转化成外部信号，最终在计算机端显示。

进一步，所述内置光源还配有用于遮挡外界光源的保护外壳。

进一步，所述激发单色器、样品架、发射单色器和检测器在样品室内的安装位置可根据实验需求而设置。

进一步，所述内置光源为75W氙灯；所述光闸为可移动式光闸。

本发明的有益效果在于：

1.本发明所述的内置光源可用于分子荧光检测以及光致发光材料的检测，外接激光光源用于荧光信号较弱的半导体固体材料的检测，通过设置内置光源和外接激光光源，有效拓展了荧光光谱仪的测试范围，解决了因仪器只有单一光源不能满足部分特殊样品测试分析的难题，结构简单，设计合理。

2.本发明所述光谱仪操作简单，满足特殊样品测试，可适用于物理、化学、生物、医药和材料科学等研究领域；同时增加现有仪器的新功能开发，降低了实验成本，提高仪器的完好率、利用率、降低维修率等。