[发明专利]投影仪校正方法、系统、存储介质以及电子设备有效

专利信息
申请号: 202110297301.5 申请日: 2021-03-19
公开(公告)号: CN112804508B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 孙世攀;张聪;胡震宇 申请(专利权)人: 深圳市火乐科技发展有限公司
主分类号: H04N9/31 分类号: H04N9/31
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 李柯莹
地址: 518000 广东省深圳市南山区科技*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 投影仪 校正 方法 系统 存储 介质 以及 电子设备
【权利要求书】:

1.一种投影仪校正方法,其特征在于,包括:

控制投影仪的飞行时间传感器对投影平面进行测量,获得所述飞行时间传感器照射在所述投影平面上的多个光点的深度信息;

针对每个所述光点,基于所述光点的深度信息,确定所述光点在所述投影平面上的三维坐标;

根据多个所述光点的三维坐标,确定所述投影平面相对于所述飞行时间传感器的第一测量法向量;

根据所述第一测量法向量,得到所述投影仪的偏移信息;

基于所述偏移信息,对所述投影仪的原始图像的尺度进行校正,得到校正后的原始图像的尺度;

控制所述投影仪根据校正后的原始图像的尺度进行投影;

其中,所述偏移信息包括偏航角和俯仰角;

所述根据所述第一测量法向量,得到所述投影仪的偏移信息,包括:

根据所述第一测量法向量、第一标定法向量、第二标定法向量计算得到所述投影仪的偏航角和俯仰角;

所述第一标定法向量是在所述投影仪处于水平位置且所述投影仪的投影光线垂直于投影平面的情况下,通过所述飞行时间传感器对该投影平面进行测量得到的该投影平面的法向量,所述第二标定法向量是将处于所述水平位置的所述投影仪以竖直方向为旋转轴旋转第一预设角度后,通过所述飞行时间传感器对该投影平面进行测量得到的该投影平面的法向量。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对每个所述光点,基于所述光点的深度信息,确定所述光点在所述投影平面上的三维坐标,包括:

针对每个所述光点,基于所述光点的深度信息,结合TOF测距模型,得到所述光点在所述投影平面上的三维坐标,其中,所述TOF测距模型为:

其中,x为所述光点在所述投影平面上的X轴坐标,y为所述光点在所述投影平面上的Y轴坐标,z为所述光点在所述投影平面上的Z轴坐标,Dis0为所述光点的深度信息,α为所述光点与所述飞行时间传感器的光心之间的连线与所述飞行时间传感器的投影射线之间的夹角,β为所述光点投影在垂直于所述投影射线且通过所述光心的平面上的投影点与所述光心之间的连线与水平线的夹角。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在控制投影仪的飞行时间传感器对投影平面进行测量,获得所述飞行时间传感器照射在所述投影平面上的多个光点的深度信息之后,所述方法还包括:

针对每个所述光点,将所述光点的深度信息与所述飞行时间传感器的测量误差的和作为所述光点的最终的深度信息,其中,所述测量误差是所述飞行时间传感器的测量得到的光点的深度信息与该光点距离所述飞行时间传感器的实际距离之间的差值;

其中,所述测量误差通过以下步骤获得:

在所述投影仪水平放置且所述投影仪的投影光线垂直于投影平面的情况下,控制所述投影仪以竖直方向为旋转轴、以第二预设角度为旋转角度旋转多次,并在每次旋转后,控制所述飞行时间传感器对所述投影平面进行测量,得到每次旋转后的所述飞行时间传感器照射在所述投影平面的光点的测量深度值;以及

基于几何关系计算该光点距离所述飞行时间传感器的真实深度值;

计算每次测量到的测量深度值与该测量深度值对应的真实深度值之间的差值;

将多次计算得到的所述差值的平均值作为所述测量误差。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述基于所述偏移信息,对所述投影仪的原始图像的尺度进行校正,得到校正后的原始图像的尺度,包括:

基于所述偏移信息,得到所述原始图像投射在所述投影平面上的投影图像的二维成像顶点坐标;

基于所述投影图像的二维成像顶点坐标、以及所述投影仪的原始图像的二维成像顶点坐标,建立单应矩阵;

从所述投影图像中选取目标矩形,并确定该目标矩形的二维成像顶点坐标;

根据所述目标矩形的二维成像顶点坐标,结合所述单应矩阵,得到校正后的原始图像的二维成像顶点坐标,并将所述校正后的原始图像的二维成像顶点坐标作为所述校正后的原始图像的尺度。

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