[发明专利]一种细粒沉积岩纹层结构识别方法及装置

权利要求书

1.一种细粒沉积岩纹层结构识别方法，其特征在于，所述方法包括：

根据细粒沉积岩的纹层发育情况划分细粒沉积岩纹层结构类型；其中，所述细粒沉积岩的纹层发育情况基于目标井段的岩心资料和薄片资料得到；

使不同纹层结构类型的细粒沉积岩与目标井段的成像测井图像进行对应，确定不同纹层结构类型的细粒沉积岩在所述成像测井图像上的响应特征；

根据所述不同纹层结构类型的细粒沉积岩在所述成像测井图像上的响应特征识别目标井段纵向纹层结构类型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使不同纹层结构类型的细粒沉积岩与成像测井图像进行对应，确定不同纹层结构类型的细粒沉积岩在成像测井图像上的响应特征包括：

对所述成像测井图像中所述不同纹层结构类型的细粒沉积岩所处层段的成像测井图像进行切片处理，得到高分辨率切片图像；

确定不同纹层结构类型的细粒沉积岩在高分辨率切片图像上的响应特征。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据不同纹层结构类型的细粒沉积岩在所述成像测井图像上的响应特征识别目标井段纵向纹层结构类型包括：

对目标井段的成像测井图像进行切片处理，得到目标井段的高分辨率切片图像；

根据目标井段的高分辨率切片图像和不同纹层结构类型的细粒沉积岩在高分辨率切片图像上的响应特征识别目标井段纵向纹层结构类型。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述纹层结构类型包括纹层状、层状和块状。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，不同纹层结构类型的细粒沉积岩在高分辨率切片图像上的响应特征包括：

在纹层结构类型为纹层状的情况下，所述高分辨率切片图像上的响应特征为明暗相间纹层呈毫米级变化；

在纹层结构类型为层状的情况下，所述高分辨率切片图像上的响应特征为明暗相间纹层呈厘米级变化；

在纹层结构类型为块状的情况下，所述高分辨率切片图像上的响应特征为明暗相间纹层呈分米或米级变化。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据细粒沉积岩的纹层发育情况划分细粒沉积岩纹层结构类型包括：

根据岩心资料观察得到的细粒沉积岩厘米-分米级纹层发育特征划分出纹层发育层段；

根据所述纹层发育层段的薄片资料观察细粒沉积岩毫米级纹层发育特征，以鉴别纹层主要成分的垂向叠置关系；

根据所述纹层主要成分的垂向叠置关系划分细粒沉积岩纹层结构类型。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

使不同纹层结构类型的细粒沉积岩与目标井段的常规测井资料进行对应，确定不同纹层结构类型的细粒沉积岩在所述常规测井资料上的响应特征；

相应的，根据目标井段的成像测井图像、目标井段的常规测井资料、不同纹层结构类型的细粒沉积岩在所述成像测井图像上的响应特征和不同纹层结构类型的细粒沉积岩在所述常规测井资料上的响应特征识别目标井段纵向纹层结构类型。

8.一种细粒沉积岩纹层结构识别装置，其特征在于，所述装置包括：

划分模块，用于根据目标井段的岩心资料和薄片资料观察得到的细粒沉积岩纹层发育情况划分细粒沉积岩纹层结构类型；

确定模块，用于使不同纹层结构类型的细粒沉积岩与目标井段的成像测井图像进行对应，确定不同纹层结构类型的细粒沉积岩在所述成像测井图像上的响应特征；

识别模块，用于根据所述不同纹层结构类型的细粒沉积岩在所述成像测井图像上的响应特征识别目标井段纵向纹层结构类型。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述使不同纹层结构类型的细粒沉积岩与成像测井图像进行对应，确定不同纹层结构类型的细粒沉积岩在成像测井图像上的响应特征包括：

对所述成像测井图像中所述不同纹层结构类型的细粒沉积岩所处层段的成像测井图像进行切片处理，得到高分辨率切片图像；

确定不同纹层结构类型的细粒沉积岩在高分辨率切片图像上的响应特征。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述根据不同纹层结构类型的细粒沉积岩在所述成像测井图像上的响应特征识别目标井段纵向纹层结构类型包括：

对目标井段的成像测井图像进行切片处理，得到目标井段的高分辨率切片图像；

根据目标井段的高分辨率切片图像和不同纹层结构类型的细粒沉积岩在高分辨率切片图像上的响应特征识别目标井段纵向纹层结构类型。