[发明专利]任意波形格式生成方法、装置、测试设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种任意波形格式生成方法、装置、测试设备和存储介质。所述方法包括：获取波形读取指令，根据该波形读取指令读取波形数据序列；获取最小波形格式单元信息；根据该最小波形格式单元信息和该波形数据序列拼接出目标波形。该方法只用通过所需的最小波形格式单元信息和波形数据序列就可以拼接出任意所需波形，满足量产芯片的测试需求，提高了测试效率。

技术领域

本申请涉及集成电路测试技术领域，特别是涉及一种任意波形格式生成方法、装置、测试设备和存储介质。

背景技术

随着集成电路规模的不断提升，IC(Integrated Circuit，集成电路)的功能越来越多。在IC出厂前要进行测试，因此需要各种类型的数字波形状态，来测试IC的功能。

一般的数字测试机只能产生4种、16种等有限固定的波形格式，只能产生几种或十几种有限的数字波形，已经不满足目前的IC测试需求，因此测试效率低。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够产生任意波形格式的任意波形格式生成方法、装置、测试设备和存储介质。

第一方面，提供了一种任意波形格式生成方法，该方法包括：

获取波形读取指令，根据该波形读取指令读取波形数据序列；

获取最小波形格式单元信息；

根据该最小波形格式单元信息和该波形数据序列拼接出目标波形。

在其中一个实施例中，该波形数据序列是由计算机设备生成的，该波形数据序列的生成过程，包括：

根据波形需要确定最小波形格式单元；

根据该最小波形格式单元和波形时序要求，生成该波形数据序列。

在其中一个实施例中，该最小波形格式单元信息包括最小波形格式单元、时钟周期、时钟周期数以及波形周期个数；

根据该最小波形格式单元信息和该波形数据序列拼接出目标波形，包括：

在该时钟周期的控制下，根据该最小波形格式单元、该时钟周期数、该波形数据序列以及该波形周期个数拼接出目标波形。

在其中一个实施例中，在该时钟周期的控制下，根据该最小波形格式单元、该时钟周期数、该波形数据序列以及该波形周期个数拼接出目标波形，包括：

在该时钟周期的控制下，将该时钟周期数作为每一位波形数据序列的保持时间，将该波形周期个数作为每组波形数据序列的循环次数，根据该最小波形格式单元以及该波形数据序列拼接出该目标波形。

在其中一个实施例中，该最小波形格式单元信息的生成方式，包括：

根据所需波形中高电平与低电平的持续时间，计算出用于生成该波形数据序列的最小波形格式单元；

根据该最小波形格式单元设置该波形周期个数；

根据时钟周期和该最小波形单元确定该时钟周期数。

在其中一个实施例中，该方法还包括：将该目标波形输出到待测芯片，根据该目标波形对该待测芯片进行测试；

若检测到测试过程结束，则停止测试。

在其中一个实施例中，该若检测到测试过程结束，则停止测试，包括：

当检测到该目标波形中出现停止信号，则停止输出波形；

或者当该目标波形的输出大小与预设的文件大小相等，则停止输出波形。

第二方面，提供了一种任意波形格式生成装置，该装置包括：