[发明专利]一种单颗粒物采样装置及系统

权利要求书

1.一种单颗粒物采样装置，其特征在于，包括：采样头、电机、气泵和控制模块；所述采样头包括上盖、粒径切割板、样品台、采样头转轴和下盖；所述上盖和下盖组成腔体；所述上盖上设置有与外界大气相连通的进气口，所述下盖上设置有与所述气泵相连接的出气口；所述粒径切割板设置在所述腔体内，与所述上盖组成加速腔，与所述下盖组成采集腔，所述样品台设置在所述采集腔中；所述粒径切割板上设置有一个及以上的粒径切割孔，所述样品台上设置有若干均匀分布的样品位，每个样品位上设置有与粒径切割孔数相同的凹槽用于放置样品膜，每个所述粒径切割孔的中心与一个样品位的每个凹槽的中心对准；所述采样头转轴设置在样品台的下方，所述电机与所述采样头转轴和所述控制模块分别相连接以根据所述控制模块的指令带动所述样品台转动。

2.根据权利要求1所述的单颗粒物采样装置，其特征在于，所述粒径切割板、样品台和下盖上分别设置有两条对准线；所述粒径切割板的对准线、所述样品台上的对准线以及所述下盖上的对准线用于进行相互对准。

3.根据权利要求1所述的单颗粒物采样装置，其特征在于，相邻样品位之间设置有缝隙。

4.根据权利要求1所述的单颗粒物采样装置，其特征在于，所述上盖和所述下盖的形状为圆柱形；所述粒径切割板和样品台的形状为圆盘形。

5.根据权利要求4所述的单颗粒物采样装置，其特征在于，还包括：第一o型密封圈和第二o型密封圈；所述上盖和所述下盖通过所述第一o型密封圈相连接；所述粒径切割板和所述下盖通过所述第二o型密封圈相连接。

6.根据权利要求1所述的单颗粒物采样装置，其特征在于，所述采样头转轴和所述下盖之间配有滚动轴承和第三o型密封圈。

7.根据权利要求1所述的单颗粒物采样装置，其特征在于，还包括：联轴器；所述电机的电机转轴与所述采样头转轴下端通过联轴器相连接。

8.根据权利要求1所述的单颗粒物采样装置，其特征在于，还包括：电机固定板；所述电机固定在所述电机固定板上；所述电机固定板通过若干铜柱与所述下盖相连接。

9.根据权利要求1所述的单颗粒物采样装置，其特征在于，还包括：直流电源；所述直流电源与所述控制模块相连接以供电。

10.一种单颗粒物采样系统，其特征在于，包括：采样箱体；还包括如权利要求1至9中任意一项所述的单颗粒物采样装置；所述单颗粒物采样装置设置在所述采样箱体内。