[发明专利]红外测温方法及计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了一种红外测温方法及计算机可读存储介质，方法包括：在各预设的影响因素分别取不同值的条件下，通过红外探测器采集不同目标温度的黑体的红外辐射能量，得到多组样本数据；根据所述多组样本数据，拟合得到目标的红外辐射能量、目标温度和影响因素的关系模型；采集当前各影响因素的值，并通过红外探测器采集待测目标的红外辐射能量；根据所述当前各影响因素的值、待测目标的红外辐射能量以及所述关系模型，计算得到待测目标的温度。本发明可在不同的环境下实现准确测温。

技术领域

本发明涉及红外测温技术领域，尤其涉及一种红外测温方法及计算机可读存储介质。

背景技术

一切温度高于绝对零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射特性(辐射能量的大小及其按波长的分布)与它的表面温度有着十分密切的关系。因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础。

由于是通过测量目标物体辐射的红外能量进行测温，而红外探测器能接收到的红外能量除了目标辐射的红外能量外，也包括环境辐射的能量，还有测温仪本身的辐射，这些都会对探测器接收红外能量产生影响。

另外，当目标辐射的红外线经过大气达到探测器时，大气本身会对红外线具有一定散射和吸收，最终造成衰减，这种衰减跟大气的温湿度、透过率密切相关。

所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。因此，为使黑体辐射定律适用于所有实际物体，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度，其值在零和小于1的数值之间。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。

要准确测量目标物体的温度，就必须综合考虑以上所有因素。而由于影响测温因素太多，数学模型复杂，每一套产品都需要单独标定，数学模型建立和参数的提取都需要花费大量的时间和精力，使得成本大大增加，难以量产。

目前主流测温方法均简化了数学模型，用以缩减标定的时间，但带来的问题是测温的精度仅在特定的环境条件下满足，当使用环境偏高或偏低时，测温精度得不到满足，或者当测温仪所处环境温度发生剧烈变化时(比如冬夏天从空调屋里面到室外)，测温仪需要经历相当长的时间才会测温稳定，对现场使用带来了一定的限制。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种红外测温方法及计算机可读存储介质，可在不同的环境下实现准确测温。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种红外测温方法，包括：

在各预设的影响因素分别取不同值的条件下，通过红外探测器采集不同目标温度的黑体的红外辐射能量，得到多组样本数据；

根据所述多组样本数据，拟合得到目标的红外辐射能量、目标温度和影响因素的关系模型；

采集当前各影响因素的值，并通过红外探测器采集待测目标的红外辐射能量；

根据所述当前各影响因素的值、待测目标的红外辐射能量以及所述关系模型，计算得到待测目标的温度。

本发明还提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现如上所述的步骤。

本发明的有益效果在于：通过考虑各种影响因素，采用全面的数据模型，并在标定时采集了各种环境下的数据，因此在很宽的温度范围内都能准确测温，当测温仪所处温度发生剧烈变化时，测温效果也能很快稳定下来。本发明可在不同的环境下实现准确测温。

附图说明

图1为本发明的一种红外测温方法的流程图；

图2为本发明实施例一的方法流程图。

具体实施方式