[发明专利]一种海面天线的谐振频率调整方法、装置及电子设备有效
申请号: | 202110255532.X | 申请日: | 2021-03-09 |
公开(公告)号: | CN112635959B | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 李丽华;王世宇;陈斌;冯士民;付天晖;修梦雷;王永斌 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军海军工程大学 |
主分类号: | H01Q1/18 | 分类号: | H01Q1/18;H01Q5/10 |
代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 李佑宏 |
地址: | 430033 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 海面 天线 谐振 频率 调整 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种海面天线的谐振频率调整方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待调整天线的工作海面环境对应的海水阻抗值,基于所述海水阻抗值确定所述工作海面环境中的缩短长度确定关系;
获取所述待调整天线的直径、理论长度以及在与所述工作海面环境相同的测试海面环境中的第一阻抗特性,并根据所述缩短长度确定关系,得到振子缩短长度;
基于所述振子缩短长度对所述待调整天线进行长度调整,获得调整后天线的第二阻抗特性;
在所述测试海面环境中测试所述调整后天线的各电气参数,判断各所述电气参数是否满足预设标准。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述缩短长度确定关系的计算公式为:
其中,L为天线长度,d为天线直径,为天线单臂的缩短长度,为天线阻抗虚部。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述测试海面环境中测试所述调整后天线的各电气参数,判断各所述电气参数是否满足预设标准,包括:
在所述测试海面环境中测试所述调整后天线的各电气参数,所述电气参数包括所述第二阻抗特性以及所述调整后天线在工作频点的反射系数;
根据所述第二阻抗特性计算判断所述调整后天线在工作频率中是否处于谐振状态,并判断所述反射系数是否小于所述待调整天线的初始反射系数;
当所述调整后天线在工作频率中处于谐振状态且所述反射系数小于所述初始反射系数时,则确定各所述电气参数满足预设标准。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
检测所述调整后天线在所述工作海面环境中工作的实际阻抗特性平均值;
对比所述实际阻抗特性平均值与第二阻抗特性,得到实际阻抗特性误差;
当所述实际阻抗特性误差大于预设误差值时,基于所述实际阻抗特性误差与所述缩短长度确定关系,计算误差缩短长度并根据所述误差缩短长度再次调整所述调整后天线。
5.一种海面天线的谐振频率调整装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于获取待调整天线的工作海面环境对应的海水阻抗值,基于所述海水阻抗值确定所述工作海面环境中的缩短长度确定关系;
计算模块,用于获取所述待调整天线的直径、理论长度以及在与所述工作海面环境相同的测试海面环境中的第一阻抗特性,并根据所述缩短长度确定关系,得到振子缩短长度;
调整模块,用于基于所述振子缩短长度对所述待调整天线进行长度调整,获得调整后天线的第二阻抗特性;
测试模块,用于在所述测试海面环境中测试所述调整后天线的各电气参数,判断各所述电气参数是否满足预设标准。
6.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4任一项所述方法的步骤。
7.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-4任一项所述方法的步骤。
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