[发明专利]一种模体的定位装置

说明书

本发明提供了一种模体的定位装置，通过使用一种模体定位装置，把细长圆柱形的所述模体放在扫描孔内的多个角度位置分别扫描，通过模体的吸收强度来计算散焦辐射强度分布，在后续计算中消除转子在旋转过程中各个角度的细微差别。

技术领域

本发明涉及计算机断层扫描设备技术领域，尤其涉及一种模体的定位装置。

背景技术

计算机X射线断层扫描仪(computed tomography，CT)是利用X射线旋转照射被测物体，然后通过计算机处理获得物体断层图像的设备。在CT中，X射线通常是由电子束轰击阳极靶获得，理想的X射线源应该是一个点，但电子束轰击阳极靶焦点区后，有部分电子会四散溅射并再次轰击阳极靶，在焦点以外产生少量X射线。焦点以外的射线会导致重建图像物体边缘模糊，严重时可能影响医生诊断。

现有的解决方法主要有两类：一是通过硬件方法从光源上消除散焦辐射，例如有些球管上有溅射电子收集装置，能防止二次电子再次轰击阳极靶产生散焦辐射。二是通过软件算法消除散焦辐射对图像的影响。

发明内容

为了克服上述技术缺陷，本发明的目的在于提供一种通过对特定模体的实际测量获得散焦辐射的强度分布、以针对每个系统的差异做更精确的矫正的模体的定位装置。

本发明公开了一种CT扫描设备的散焦辐射强度分布测量方法，包括如下步骤：将一细长圆柱模体通过定位装置固定于扫描孔径内的不同位置、且垂直于扫描平面并尽量远离旋转中心；CT扫描设备的x射线源及探测器围绕机架旋转中心连续旋转并执行曝光扫描过程；在此过程中，所述模体切割散焦面任意一点与任一探测器单元的连线；采集此过程中每个时刻、每个探测器的输出值数据；调节模体定位装置，使模体位于相对于旋转中心的多个角度的位置，采集所述模体位于多个角度时、每个时刻每个探测器的输出值数据；对采集的数据进行本底去除，并提取出完全不被遮挡的探测器单元信号，计算出每个探测器单元的空扫增益并对所有数据做增益校正；根据增益校正后完全不被遮挡的探测器单元信号数据，对于每一个探测器单元，计算出每一个角度位置的模体在哪一个采样点时会被散焦面上某一点与该探测器的连线穿过；通过获取该采样点被遮挡时相对于不被遮挡时的衰减值，得到散焦面上该采样点到达该探测器单元的散焦强度；通过所有角度位置的散焦强度，计算得到散焦强度分布。

优选地，所述提取出完全不被遮挡的探测器单元信号，计算出每个探测器单元的空扫增益并对所有数据做增益校正包括：一级校正过程，即对于每个探测器单元的所有数据I(view，ch)，选取出不被遮挡的数据，对数据做低频的拟合，得到每个通道的校准值I₀(ch)，从而获取一级校正数据：其中，view为采样时刻编号，ch为通道编号；二级校正过程，即对于每个采样时刻I₁(view，ch)，选出完全不被遮挡的数据，并取平均值ref(view)，从而获取二级校正数据：

优选地，多次重复执行所述一级校正过程和二级校正过程，得到每个探测器单元在每个时刻接收到的X射线的强度值P(view，ch)。

优选地，0≤P(view，ch)≤1，P(view，ch)为无量纲，完全不被模体遮挡时P(view，ch)为1，被完全遮挡时P(view，ch)为0。