[发明专利]一种适用于多分辨率粒子法的自由表面识别方法在审

专利信息
申请号: 202110223899.3 申请日: 2021-03-01
公开(公告)号: CN113011075A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 王丽珠;徐敏;蒋勤;张茜;刘晴;王在峰;张戈 申请(专利权)人: 南京师范大学
主分类号: G06F30/25 分类号: G06F30/25;G06F111/10
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 向文
地址: 210046 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 分辨率 粒子 自由 表面 识别 方法
【权利要求书】:

1.一种适用于多分辨率粒子法的自由表面识别方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1:根据研究对象,选取计算域范围,确定计算域的空间维度,以及影响域面积占比计算所在平面;

S2:确定各区域的大小和空间分辨率,得到所有粒子的初始空间位置,确定用于自由表面判别的影响域半径;

S3:根据目标粒子和相邻粒子的空间位置以及影响域指定范围,确定影响域任一粒子所占影响域面积;

S4:计算目标粒子影响域范围内各粒子所占面积之和,确定自由表面粒子影响域面积占比判别标准;

S5:借助静水模拟,选取最优影响域半径以及内部流体粒子的影响域面积占比参考值,确定影响域面积占比判别公式,结合自由表面粒子压力判别标准,确定最终的多分辨率条件下的自由表面粒子判别方法。

2.根据权利要求1所述的一种适用于多分辨率粒子法的自由表面识别方法,其特征在于,所述步骤S1具体为:

A1:根据研究对象和研究目标,确定计算域的空间维度Ds和计算范围;

A2:根据选取的空间维度Ds,判别是否需要执行平面投射;若Ds=3,则需要执行平面投映;若Ds=2,则不需要执行平面投映,直接跳至步骤S2;

A3:执行平面投映:

平面投映规则:根据目标粒子i的空间坐标(xi,yi,zi),将其y-坐标所在的xz-平面y=yi,作为计算影响域被占面积所在平面,同时以该平面为中心面,向前向后各平移Δy距离,确定平面y=yi+Δy和y=yi-Δy,然后将目标粒子影响域内在这两平面之间的所有粒子投映到中心面y=yi上,其中,Δy定义为:

Δy=αDi,

式中:α为区域松弛系数;Di为目标粒子i的直径。

3.根据权利要求1所述的一种适用于多分辨率粒子法的自由表面识别方法,其特征在于,所述步骤S2具体为:

B1:根据研究对象的计算域尺度,结合具体的研究目标和预期结果,确定模拟算例的空间步长是采用单一分辨率还是多分辨率,即确定计算域内粒子大小设置一致还是不一致;

B2:结合计算域分辨率选择结果,确定所有粒子的直径D;对于采用单一分辨率的计算域,粒子直径D等于l0;对于多分辨率,则先进行子区域划分,再确定每个子区域的粒子直径Dk,令:

Dk=αkl0

式中:l0为多分辨率条件下的最小粒子直径;k为子区域编号,k=1,2,3…m;αk为各子区域粒子直径放大倍数;

B3:按照规则均匀分布的原则,借助正方形网格节点或正六边形网格节点,根据每个粒子所在子区域,确定所有粒子的粒子尺寸和初始空间坐标点;

B4:选取影响域光滑半径系数βs,确定各子区域的影响域半径Re_k

Re_k=βsDk

根据各子区域的影响域半径Re_k,定义通用影响域半径Re_0

Re_0=max(Re_1,Re_2...Re_k...Re_m),

即取所有影响半径的最大值作为通用影响域半径;

B5:根据各子区域的影响域半径,确定每个粒子在做自由表面识别时采用的影响域半径。

4.根据权利要求3所述的一种适用于多分辨率粒子法的自由表面识别方法,其特征在于,所述步骤B5中每个粒子在做自由表面识别时采用的影响域半径的确定方式为:

首先以Re_0作为统一标准,进行邻域内粒子搜索;对于邻域粒子尺寸相等的目标粒子,其影响域半径即取为其所在子区域的影响域半径,即使用初始设置时同样尺寸的粒子所在的子区域编号k对目标粒子进行标号,当进行自由表面粒子判别时,以Re_k作为该目标粒子的影响域半径;若影响域内粒子尺寸不相同,当进行自由表面粒子判别时,则采用目标粒子邻域内最大粒子对应的粒子尺寸Dk的影响域半径Re_k

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