[发明专利]一种氧吸附增强单层WS2有效

专利信息
申请号: 202110218194.2 申请日: 2021-02-26
公开(公告)号: CN113549452B 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 潘安练;骆子煜;陈舒拉 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: C09K11/68 分类号: C09K11/68;C09K11/02;C01G41/00
代理公司: 长沙市融智专利事务所(普通合伙) 43114 代理人: 盛武生;魏娟
地址: 410082 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 吸附 增强 单层 ws base sub
【权利要求书】:

1.一种氧吸附增强单层WS2荧光的方法,其特征在于:将WS2进行物理气相沉积,得到WS2二维材料,随后将其置于含氧气体中处理,从而提高材料的荧光强度;

物理气相沉积过程的温度为1000~1200℃;

含氧气体的氧分压为20~100%;

在含氧气体中处理过程的温度为150~200℃。

2.如权利要求1所述的氧吸附增强单层WS2荧光的方法,其特征在于:处理后的材料的荧光强度增大的区域由边缘向中心扩展。

3.如权利要求2所述的氧吸附增强单层WS2荧光的方法,其特征在于:基于含氧气体的氧原子化学吸附边缘W原子悬挂键的机制增强边缘荧光强度,并基于含氧气体中的氧原子化学吸附在中心区域S原子空位的机制增强中心区域荧光强度。

4.如权利要求1所述的氧吸附增强单层WS2荧光的方法,其特征在于:所述的WS2二维材料为单层二维材料。

5.如权利要求1所述的氧吸附增强单层WS2荧光的方法,其特征在于:所述的含氧气体为纯氧,或者氧气和其他气体的混合气。

6.如权利要求1所述的氧吸附增强单层WS2荧光的方法,其特征在于:通过调控含氧气体氧分压和/或处理过程的温度,调控荧光增强区域由边缘向中心扩展的速率。

7.如权利要求1所述的氧吸附增强单层WS2荧光的方法,其特征在于:含氧气体的氧分压为45~60%。

8.如权利要求1所述的氧吸附增强单层WS2荧光的方法,其特征在于:在含氧气体中处理过程的温度为150~175℃。

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