[发明专利]太赫兹系统及方法

说明书

本发明提供一种太赫兹系统及方法，包括：环形导轨、太赫兹发射镜头、样品座、样品座支架、二维扫描台和太赫兹接收镜头；环形导轨上设有第一和第二滑块；第一和第二滑块沿环形导轨滑动；太赫兹发射镜头旋转设置于第一滑块上，太赫兹接收镜头旋转设置于第二滑块上；样品座支架一端与样品座连接，另一端与二维扫描台连接，以使二维扫描台带动样品座进行二维运动，以使样品座相对于太赫兹发射镜头和太赫兹接收镜头做二维运动；太赫兹发射镜头发出太赫兹波，以使放置于样品座上的样品反射或透射太赫兹波，以使携带有样品信息的太赫兹波被太赫兹接收镜头接收。本发明的一种太赫兹系统及方法，用于同时提供可以切换不同的检测模式，对样品进行二维扫描。

技术领域

本发明涉及太赫兹技术领域，特别是涉及一种太赫兹系统及方法。

背景技术

目前，利用太赫兹光谱技术进行物质检测分析主要有太赫兹时域光谱技术(THz-TDS) 和太赫兹衰减全反射时域光谱技术(THz-ATR-TDS)，在太赫兹时域光谱技术中，其检测方式主要分为透射模式和反射模式；在太赫兹衰减全反射时域光谱技术中，其检测方式主要分为聚焦光ATR模式和平行光ATR模式，针对上述四种模式，可形成四种功能不同的探头，而市面上的探头基本都是只有单一模式功能或两种模式功能集成，应用范围有限。本发明集上述四种模式于一体，兼并扫描成像功能，可满足市面大部分检测应用需求。

因此，希望能够解决如何同时兼容多种太赫兹检测模式的问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种太赫兹系统及方法，用于解决现有技术中如何同时兼容多种太赫兹检测模式的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种太赫兹系统，所述系统包括：环形导轨、太赫兹发射镜头、样品座、样品座支架、二维扫描台和太赫兹接收镜头；所述环形导轨上设有第一滑块和第二滑块；所述第一滑块和第二滑块沿着所述环形导轨滑动；所述太赫兹发射镜头旋转设置于所述第一滑块上，所述太赫兹接收镜头旋转设置于所述第二滑块上；所述样品座支架一端与所述样品座连接，另一端与所述二维扫描台连接，以使所述二维扫描台带动所述样品座进行二维运动，以使所述样品座相对于所述太赫兹发射镜头和所述太赫兹接收镜头做二维运动；所述太赫兹发射镜头发出太赫兹波，以使放置于所述样品座上的样品反射或透射所述太赫兹波，以使携带有样品信息的太赫兹波被所述太赫兹接收镜头接收。

为实现上述目的，本发明还提供一种太赫兹方法，应用于太赫兹系统，所述太赫兹系统包括：环形导轨、太赫兹发射镜头、样品座、样品座支架、二维扫描台和太赫兹接收镜头；包括以下步骤：在所述环形导轨上设有第一滑块和第二滑块；以使所述第一滑块和第二滑块沿着所述环形导轨滑动；将所述太赫兹发射镜头旋转设置于所述第一滑块上，将所述太赫兹接收镜头旋转设置于所述第二滑块上；将所述样品座支架一端与所述样品座连接，另一端与所述二维扫描台连接，以使所述二维扫描台带动所述样品座进行二维扫描移动，以使所述样品座相对于所述太赫兹发射镜头和所述太赫兹接收镜头做二维运动；基于所述太赫兹发射镜头发出太赫兹波，以使放置于所述样品座上的样品反射或透射所述太赫兹波，以使携带有样品信息的太赫兹波被所述太赫兹接收镜头接收。

如上所述，本发明的一种太赫兹系统及方法，具有以下有益效果：同时提供可以切换不同的检测模式，对样品进行二维扫描。

附图说明

图1显示为本发明的太赫兹系统于一实施例中的结构示意图；

图2显示为本发明的太赫兹系统于一实施例中的THz-ATR-TDS平行光ATR模式的结构示意图；

图3显示为本发明的太赫兹系统于一实施例中的THz-ATR-TDS平行光ATR模式光路的结构示意图；

图4显示为本发明的太赫兹系统于一实施例中的THz-ATR-TDS聚焦光ATR模式的结构示意图；

图5显示为本发明的太赫兹系统于一实施例中的THz-ATR-TDS聚焦光ATR模式光路的结构示意图；