[发明专利]一种多芯光纤干涉校准标样及校准多芯干涉仪的方法

说明书

本发明公开了一种多芯光纤干涉校准标样及校准多芯干涉仪的方法，包括座体和基套；所述座体安装在基套上；所述座体包括光纤套筒和光纤；光纤套筒包裹在光纤的外侧面上；所述基套的上表面为测试表面，测试表面至少包括两芯以上的光纤特征面，光纤特征面具有多芯光纤台阶；所述光纤特征面的单个光纤顶部与纤芯拟合面的距离为对应纤芯下陷；所述光纤特征面单个光纤顶部与光纤套筒上端拟合面的距离为对应标注光纤高度。本发明提供的多芯光纤干涉校准标样能扩充标样范围和减少不同材料特性等引入测量不确定影响量，提高校准精度、有利于多芯光纤干涉仪多量值测量校准及功能扩展，结构紧凑、体积小、多量值，便于归一存放。

技术领域

本发明涉及多芯光纤干涉仪校准检测技术领域，尤其涉及一种多芯光纤干涉校准标样及该校准标样校准多芯干涉仪的方法。

背景技术

现有的多芯光纤干涉仪用标准标样仅在同一个器具平面内的窄带阵列结构，不能覆盖多芯光纤干涉仪宽量程校准要求，而且没有既能满足单量校准的同时，又能满足多量值的多芯光纤三维形状表征要求的校准标样。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种多芯光纤干涉校准标样及该校准标样校准多芯干涉仪的方法，该多芯光纤干涉校准标样能扩充标样范围和减少不同材料特性等引入测量不确定影响量，提高校准精度、有利于多芯光纤干涉仪多量值测量校准及功能扩展，结构紧凑、体积小、多量值，便于归一存放。

本发明的目的通过以下的技术方案来实现：

一种多芯光纤干涉校准标样，包括座体和基套；所述座体安装在基套上；

所述座体包括光纤套筒和光纤；光纤套筒包裹在光纤的外侧面上；所述基套的上表面为测试表面，测试表面至少包括两芯以上的光纤特征面，光纤特征面具有多芯光纤台阶；所述光纤特征面的单个光纤顶部与纤芯拟合面的距离为对应纤芯下陷；所述光纤特征面单个光纤顶部与光纤套筒上端拟合面的距离为对应标注光纤高度。

一种多芯光纤干涉校准标样校准多芯干涉仪的方法，包括：

将多芯光纤干涉校准标样置于多芯光纤干涉仪工作台上，调整控制多芯光纤干涉仪的精密位移器，观察多芯光纤干涉校准标样的测试干涉图像；

对测试表面的标准光纤高度和套筒端面的标准纤芯下陷进行测量，将测量值与多芯光纤干涉校准标样的校准值进行比对；

调整座体位置，避开粘合表面对套筒表面的标准光纤高度差进行扫描，得到扫描图像并进行微观三维重构后进行测量；

将测量值和多芯光纤干涉校准标样的校准值进行对比，记录并分析，取出标样，完成多芯光纤干涉仪校准。

与现有技术相比，本发明的一个或多个实施例可以具有如下优点：

多芯光纤干涉校准标样结构紧凑、体积小，多量值，便于归一存放、能扩充标样范围和减少不同材料特性等引入测量不确定影响量，提高校准精度、有利于多芯光纤干涉多量值测量校准及功能扩展。

附图说明

图1a和1b是多芯光纤干涉校准标样的立体结构示意图；

图2是多芯光纤干涉校准标样基体的剖视图；

图3是多芯光纤干涉校准标样校准多芯干涉仪的方法流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合实施例及附图对本发明作进一步详细的描述。