[发明专利]一种偏光膜缺点汇整标记系统

说明书

本发明公开了一种偏光膜缺点汇整标记系统，系统在前制程延伸站、涂布站和保护膜贴合站设置多组自动光学检查机，用于检测偏光膜各层缺点，自动生成缺点档案并上传至数据库；延伸站设激光喷印机，喷印二维码，各站设置读取装置读取二维码记录的生产管理号和米数信息；涂布站和保护膜贴附站设置汇整标记系统和喷墨机进行偏光膜缺点数据的汇整喷印。本发明提供的缺点汇整标记系统，通过喷印二维码记录卷料信息，扫码载入二维码信息、汇整缺点档案，自由选择缺点汇整站别，按不同类型或通道分类、选择喷印，实现偏光膜缺点喷印的可调整性和准确性，有效地防止了缺点的遗失，适合各偏光膜厂量产。

技术领域

本发明涉及一种偏光膜缺点汇整标记系统，属于偏光膜光学检测技术领域。

背景技术

偏光膜生产前制程主要有延伸站（PVA站）、涂布站（PSA站）和保护膜贴合站（PK站），由于多层膜材在无尘室贴合时，经常会遇到滚轮或膜材上粘附异物，就会产生异物、气泡、捏痕或凹凸等缺点。现有技术中，在各生产站别的各层膜材设置各种类型的自动光学检查机（AOI，Automated Optical Inspection）对缺点进行监控，在涂布站贴合前后设置自动光学检查机检出缺点后利用喷墨机对该缺点位置进行标记，再经过熟成后到后制程利用自动裁切机裁切成不同尺寸的片状偏光板，由人工或机器检验被标记的不良品，统计缺点类型和良率，或直接以卷料的方式送到面板厂进行卷料到液晶面板的贴合，再统计良率。

这种偏光膜缺点喷印方式会带来至少两个问题：1.膜材层数越少，自动光学检查机构检出效果越好，越到后续站别，如PSA站和RK站，PVA站内层缺点越不易检出；2.需要在涂布站设置多类型检测通道的AOI才能保证缺点有效被检出并标记。由于单台自动光学检查机的价格偏贵，且受到主机台安装空间限制，各偏光板企业逐步开始评估缺点汇整标记系统，各站别只需要设置当站易出现缺点的自动光学检查机通道，节约成本的同时保证了偏光膜缺点的检出。另外汇整系统不受膜材状态的限制，当前制程缺点喷印设备异常时，可利用缺点汇整系统再次进行缺点标记，提高后制程检查效率，防止缺点漏失到客户家。

缺点汇整系统涉及膜材生产系统，自动光学检查系统，二维码/条形码选型喷印和读取系统，缺点标记系统，缺点数据格式和上传系统等多系统集成，且二维码多存在喷印不良或读取率不高的问题。早期的缺点汇整系统等多作为缺点即检即喷系统的补充扩展，如3M创新有限公司在专利CN102007367B幅材上的优先缺陷标记中探讨了膜材各层缺陷在不同位置如何根据缺点数据库在各委外加工厂被标记的可能。

从2004年到2014年，主流的偏光板生产厂商均开始研究如何设置偏光膜缺点汇整系统，此时多采用热熔式喷墨机式在偏光膜边缘喷印条形码进行缺点信息管理，热熔式喷墨机在白边喷印存在翘曲和飞墨现象，带来了很多异常问题，直到后来开发出激光喷印二维码，极大地提高了二维码喷印率和读取率，才将缺点汇整系统用于偏光膜量产成为可能。但是现有技术采用的是单边喷印的方式，也会存在偶尔喷印异常或偏光膜卷料异常复卷换边问题影响缺点汇整，因此需开发一种新的偏光膜缺点汇整标记系统。

发明内容

目的：为了解决现有技术中单边喷印中由于喷印异常或偏光膜卷料异常复卷换边导致的缺点汇整遗失的问题，提供了一种偏光膜缺点汇整标记系统。

技术方案：为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种偏光膜缺点汇整标记系统，用于偏光膜前制程生产时的缺点汇整及标记，所述前制程生产包括延伸站、涂布站和保护膜贴合站，

汇整标记系统包括自动光学检查机，用于检测偏光膜各层缺点，自动生成缺点档案，并将缺点档案上传至数据库；

激光喷印机，用于喷印二维码，记录偏光膜生产管理信息和米数信息；

读取装置，读取二维码的信息，并上传至数据库；

数据库，用于数据的存储，并提供上传和下载功能；