[发明专利]多功能检测装置

说明书

本申请公开一种检测装置，包括多个功能开关模块、驱动模块、测试接口与微控制单元。多个功能开关模块的每一个包括有多个开关；驱动模块驱动所述多个功能开关模块中的所述多个开关的开启或关闭；测试接口用于在测试时设置待测试产品；微控制单元，存储有多个测试程序，在测试时自所述多个测试程序中选择相应于所述待测试产品的其中一个测试程序，所述微控制单元输出相应于所述选擇的测试程序的测试控制信号与/或功能信号，所述测试控制信号通过所述驱动模块控制所述多个开关模块中的所述多个开关的开启或关闭以形成信号通道，所述功能信号通过所述信号通道以对所述待测试产品执行相应于所述选擇的测试程序的功能。

技术领域

本申请涉及检测领域，尤其涉及一种多功能检测装置。

背景技术

现有技术通过使用微控制单元(Microcontroller Unit；MCU)来测试产品的功能模块。例如，测试具有多个LED模组的产品时，需要从微控制单元输出相应数量的控制讯号，以点亮产品的LED模组进行测试。

产品与微控制单元之间则需要通过多个连接线连接。传统的测试仪器开发，需要手动焊接多根电子导线，以将微控制单元的信号接入到待测端口，产品信号插入到端口后与MCU信号进行逻辑通讯，完成功能测试。传统的测试治具一般使用手动方式配组硬件，费时费力。而由于产品功能日益强大，所需要的测试信号越来越多，所以仪器内部接线越来越繁琐。此外，针对每一种产品都需要开发测试治具，导致项目开发周期长、硬件异常难定位、MCU接脚资源紧张等缺点，因此传统的测试治具仍有改善空间。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请是通过公开一种包括多个功能开关模块、驱动模块、测试接口与微控制单元的多功能检测装置来实现，以解决传统测试治具的问题。

本申请公开一种多功能检测装置，包括多个功能开关模块、驱动模块、测试接口与微控制单元。多个功能开关模块并联连接，多个功能开关模块的每一个包括有多个开关；驱动模块驱动所述多个功能开关模块中的所述多个开关的开启或关闭；测试接口用于在测试时设置待测试产品；微控制单元，存储有多个测试程序，在测试时自所述多个测试程序中选择相应于所述待测试产品的其中一个测试程序，所述微控制单元输出相应于所述选擇的测试程序的测试控制信号与/或功能信号，所述测试控制信号通过所述驱动模块控制所述多个开关模块中的所述多个开关的开启或关闭以形成信号通道，所述功能信号通过所述信号通道以对所述待测试产品执行相应于所述选擇的测试程序的功能。

本申请公开的测试装置采用的多个功能开关模块来解决微控制单元输出入端口资源不足的问题。此外，只需要确定待测试产品所需要的信号，然后选定相应的测试程序以驱动功能开关模块，使之自动切换线路，微控制单元输出的测试信号就导通到待测端口，产品插入到测试端口后就可以与微控制单元的信号进行逻辑通讯，完成功能测试，并且解决接线繁琐等问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是本申请的多功能检测装置的一实施方式的示意图；

图2是本申请的多功能检测装置中的功能开关模块的一实施方式的示意图；

图3是本申请的多功能检测装置的实施方式的示意图；及

图4是本申请的多功能检测装置的实施方式的示意图。

具体实施方式

以下将配合相关附图来说明本发明的实施例。在这些附图中，相同的标号表示相同或类似的组件或方法流程。

必须了解的是，使用在本说明书中的“包含”、“包括”等词，是用于表示存在特定的技术特征、数值、方法步骤、作业处理、组件和/或组件，但并不排除可加上更多的技术特征、数值、方法步骤、作业处理、组件、组件，或以上的任意组合。