[发明专利]瞬变电磁对称结构的过套管电阻率测井方法有效
申请号: | 202110109087.6 | 申请日: | 2021-01-27 |
公开(公告)号: | CN112904433B | 公开(公告)日: | 2023-03-17 |
发明(设计)人: | 沈建国 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01V3/28 | 分类号: | G01V3/28;E21B49/00 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 吴学颖 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁 对称 结构 套管 电阻率 测井 方法 | ||
1.一种瞬变电磁对称结构的过套管电阻率测井方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一,将发射线圈和接收线圈沿同轴线硬连接在一起,仪器整体沿井轴放置于待测套管井中,测井时仪器整体沿井轴运动;所述接收线圈两两为一组,每组接收线圈均对称设置于发射线圈上下两侧,每组接收线圈在空气中或均匀模型中均获得相同的瞬变电磁响应波形;
步骤二,将任意一组接收线圈接收到的两个形状相同包含发射线圈上下不同地层电导率信息的瞬变电磁响应波形分别输入到差分放大器的两个差分输入端,经过差分放大器相减以后获得发射线圈上下不同地层产生的涡流再次激发信号的差,即响应差波形;
步骤三,仪器运动过程中,将不同地层的每个响应差波形的峰值取出,得到峰值随深度变化的曲线;或者将每个响应差波形峰值附近的响应取绝对值并叠加,得到叠加的绝对值随深度变化的曲线;
步骤四,用刻度装置对响应差波形的峰值或者叠加的绝对值进行刻度;
步骤五,依据套管井地层的几何因子差对刻度之后的峰值随深度变化曲线建模,经过反卷积处理以后获得地层的电导率;
从响应差波形获得的峰值随深度变化曲线对应于上、下两个接收线圈所对应的几何因子的差与地层电导率的卷积,在发射线圈中心所在位置的地层其几何因子为0,以该位置为反向对称点,几何因子反向对称;
步骤六,对其余每组接收线圈接收的波形均按照步骤二至步骤五过程进行处理,得到不同源距测量的地层电导率。
2.根据权利要求1所述的瞬变电磁对称结构的过套管电阻率测井方法,其特征在于,步骤一中所述接收线圈的圈数和结构均相同。
3.根据权利要求1所述的瞬变电磁对称结构的过套管电阻率测井方法,其特征在于,步骤二中所述差分放大器的数量等于接收线圈的组数。
4.根据权利要求1所述的瞬变电磁对称结构的过套管电阻率测井方法,其特征在于,步骤四中所述刻度装置由套管和套管外介质组成,在套管内放置发射线圈和接收线圈,套管外介质以发射线圈的中点为分界点,两侧用不同电导率的介质组成。
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