[发明专利]防拔功能的测试设备及测试方法

权利要求书

1.一种智能卡防拔功能的测试设备，连接至上位机，其特征在于，包括：主控模块、接口模块、传输模块、电源模块；

所述电源模块分别与所述主控模块和所述接口模块连接，用于对所述主控模块和所述接口模块供电；

所述主控模块连接所述接口模块，所述接口模块用于连接待测智能卡；

所述传输模块连接在所述主控模块和所述上位机之间，所述主控模块用于通过所述传输模块接收所述上位机发送的用于进行防拔测试的测试指令，并通过所述接口模块对所述待测智能卡进行防拔测试，其中，所述测试指令为所述上位机在检测到所述待测智能卡后发送，所述测试指令包括：第一指令和第二指令，所述第二指令为所述上位机在发送所述第一指令后发送的指令；所述第一指令用于指示所述主控模块在一设定的掉电时间点控制所述待测智能卡掉电，所述第二指令用于验证掉电后所述待测智能卡中是否写入非法数据；

所述主控模块用于识别出所述第一指令中携带的掉电延迟时长，在接收到所述第二指令后，通过所述接口模块将所述第二指令发送给所述待测智能卡并开始计时，在计时时长达到所述掉电延迟时长后，通过所述接口模块控制所述待测智能卡掉电；

所述待测智能卡接收到所述第二指令后对所述第二指令进行响应，且在掉电后停止对所述第二指令的响应；

所述主控模块还用于在所述待测智能卡掉电后，通过所述接口模块控制所述待测智能卡上电，并通过所述接口模块读取所述待测智能卡对所述第二指令的响应结果，根据所述响应结果确定所述待测智能卡是否具有防拔功能。

2.根据权利要求1所述的智能卡防拔功能的测试设备，其特征在于，所述测试设备支持测试接触式类型的待测智能卡和非接触式类型的待测智能卡；

所述接口模块包括支持接触式通信协议的第一类接口芯片以及与所述第一类接口芯片连接的卡槽，所述卡槽用于连接所述接触式类型的所述待测智能卡，所述第一类接口芯片的受控引脚和所述主控模块中与所述第一类接口芯片对应的控制引脚连接；

所述接口模块还包括支持非接触式通信协议的第二类接口芯片以及与所述第二类接口芯片连接的天线，所述天线用于连接所述非接触式类型的所述待测智能卡，所述第二类接口芯片的受控引脚和所述主控模块中与所述第二类接口芯片对应的控制引脚连接。

3.根据权利要求2所述的智能卡防拔功能的测试设备，其特征在于，所述测试指令还包括智能卡类型标识；所述主控模块用于根据所述智能卡类型标识，在所述第一类接口芯片和所述第二类接口芯片中选择一个作为目标接口芯片，并通过所述目标接口芯片对与所述目标接口芯片连接的所述待测智能卡进行防拔测试。

4.根据权利要求1所述的智能卡防拔功能的测试设备，其特征在于，所述主控模块还用于在所述计时时长达到预获取的恢复时长后，通过所述接口模块控制所述待测智能卡上电；其中，所述恢复时长大于所述待测智能卡掉电重启后进入正常工作的时长。

5.根据权利要求1所述的智能卡防拔功能的测试设备，其特征在于，所述传输模块为USB转串口。

6.根据权利要求1所述的智能卡防拔功能的测试设备，其特征在于，所述主控模块包括：所述待测智能卡上电或掉电的使能控制引脚，所述接口模块包括：所述待测智能卡上电或掉电的使能引脚；所述使能引脚与所述使能控制引脚连接；

若所述主控模块通过所述使能控制引脚输出表征掉电的第一电平信号，所述接口模块通过所述使能引脚接收到所述第一电平信号并控制所述待测智能卡掉电；

若所述主控模块通过所述使能控制引脚输出表征上电的第二电平信号，所述接口模块通过所述使能引脚接收到所述第二电平信号并控制所述待测智能卡上电。

7.根据权利要求1至6任一项所述的智能卡防拔功能的测试设备，其特征在于，所述主控模块还用于接收所述上位机发送的携带目标电压值的第三指令，并通过所述接口模块以所述目标电压值对所述待测智能卡进行供电。