[发明专利]一种高低温试验箱在审
申请号: | 202110096200.1 | 申请日: | 2021-01-25 |
公开(公告)号: | CN112827514A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 谭志刚 | 申请(专利权)人: | 上海翰测环境仪器有限公司 |
主分类号: | B01L1/00 | 分类号: | B01L1/00;B01L7/00 |
代理公司: | 南昌金轩知识产权代理有限公司 36129 | 代理人: | 文珊 |
地址: | 201799 上海市青浦区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低温 试验 | ||
本发明涉及一种高低温试验箱,包括底座、固定在底座上的箱体以及固定在箱体侧壁上的控制箱,箱体内设置有多个用于升温的加热装置、多个用于降温的制冷装置以及用于热量交换的风力循环装置。箱体内设置有可转动的置物托板,加热装置上设置有转动座,转动座安装在箱体的内壁上,制冷装置包括蒸发器以及液氮制冷系统,蒸发器与箱体的内壁固定连接且设置在置物托板的上方。控制箱内设置有单片机,单片机分别与转动座、加热装置以及制冷装置控制连接。通过在箱体内设置转动的置物托板,加上可转动的加热装置,从而使得产品在升温过程中,其各个面都能受热均匀,并且液氮制冷系统与蒸发器能够进行快速制冷,提高了试验结果的准确性。
技术领域
本发明涉及温度变化试验技术领域,尤其是涉及一种高低温试验箱。
背景技术
随着现代电子产品设计能力的日趋成熟,电子产品缺陷通常在制造过程中尤其是在批生产阶段中被引入。使用有缺陷的原材料和元器件便会引入潜在的电子产品缺陷。在电子产品上施加高低温循环温度应力,是鉴别和剔除产品工艺和元器件等早期故障的一种方法。
现有的技术中,在目前的高低温变化试验箱中,其制热方式主要通过电热管加热,制冷方式主要通过蒸发器的机械制冷方式。然而,在试验过程中,由于加热器通常是固定在箱体的内部,产品放置在箱体内部的置物托板上,使得产品靠近加热器一面的温度急剧升高,产品背离加热器一面的温度升高缓慢,从而导致产品的受热不均匀,影响试验结果的准确性。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明的目的是提供一种高低温试验箱,通过在箱体内设置转动的置物托板,并且设置可转动的加热装置,从而使得产品在进行高低温试验的升温过程中,其各个面都能受热均匀,提高试验结果的准确性。
本发明的上述发明目的是通过以下技术方案得以实现的:
一种高低温试验箱,包括底座、固定在底座上的箱体以及固定在所述箱体侧壁上的控制箱,所述箱体内设置有多个用于升温的加热装置、多个用于降温的制冷装置以及用于热量交换的风力循环装置;
所述箱体内设置有可转动的置物托板,所述加热装置上设置有转动座,所述转动座安装在所述箱体的内壁上,所述制冷装置包括蒸发器以及液氮制冷系统,所述蒸发器与所述箱体的内壁固定连接且设置在所述置物托板的上方;
所述控制箱内设置有单片机,所述单片机分别与所述转动座、所述加热装置以及所述制冷装置控制连接。
通过上述技术方案,在对产品进行高低温快速温度变化试验时,将产品放入箱体内的置物托板上,通过控制单片机开启加热装置或制冷装置,使得箱体的温度升高或降低。当箱体内的待测产品受到热空气的冲击时,通过单片机打开转动座,使得加热装置在水平方向上转动,从而使得产品的各个面受热均匀,增加了箱体内温度升高的速率。待箱体内升高到一定的温度后,关闭加热装置,通过单片机打开蒸发器与液氮制冷系统,从而使得箱体内的温度骤然降低,通过设置液氮制冷系统与蒸发器进行制冷可快速的将温度下降到所需温度,从而提高了试验的准确性。
本发明在一较佳示例中可以进一步配置为:所述加热装置包括安装轴、呈圆弧形状的聚光罩以及加热灯泡,所述安装轴的一端转动连接在所述转动座上,另一端与所述聚光罩的凸面固定连接;
所述加热灯泡安装在所述聚光罩的凹面的中心处,所述聚光罩的凹面朝向所述置物托板设置,所述加热灯泡与所述单片机电连接。
通过上述技术方案,通过控制单片机使得加热灯泡通电后发出具有热量的光线,光线在聚光罩上汇集反射至置物托板的产品上,从而使得产品表面的温度迅速升高,提高了加热的效率。安装轴随着转动座转动,使得光线能够均匀的反射在产品的不同位置处,有利于试验品的快速加热和均匀受热。
本发明在一较佳示例中可以进一步配置为:所述加热装置配置为四个,所述箱体呈长方体状,四个所述加热装置通过转动座分别转动设置在所述箱体内壁的四个面上。
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