[发明专利]一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质

说明书

本发明公开一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质，对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后，导出二进制坏块表；将二进制坏块表转换成文本形式坏块表；基于预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析，获得坏块信息。本发明实现读写压力坏块的解析，坏块表中包含全部坏块的信息，且包含地址等信息，实现全部坏块的扫描定位，可以快速定位故障颗粒位置，减少故障盘维修时间和测试成本。

技术领域

本发明涉及NVMe固态硬盘领域，具体涉及一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质。

背景技术

随着NVMe(Non-Volatile Memory express,是一种建立在M.2接口上的类似AHCI的一种协议,是专门为闪存类存储设计的协议)硬盘在服务器领域的广泛应用， NVMe标准可以带来多方面的性能提升，而NVMe硬盘作为PCIe通道的SSD（固态硬盘），其规范势必在未来慢慢取代现在的AHCI标准SSD。

针对高性能NVMe固态硬盘需要经过多个工站的测试后方可出货，其中对于坏块的解析和识别，一般是在某个工站对固态硬盘部件nand（计算机闪存设备）和ddr（双倍速率同步动态随机存储器）进行老化，对nand和ddr进行筛选，对于不符合测试标准的nand颗粒标记为坏块，将记录的坏块信息存入到eeprom（带电可擦可编程只读存储器）中，然后再下一个工站中从eeprom中提取坏块信息进行解析和汇总。这种方式不能识别读写压力产生的坏块，无法扫描遍历和识别全部坏块和定位坏块位置。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质，可识别并定位全部坏块，方便维修更换。

本发明的技术方案为：一种NVMe固态硬盘坏块解析方法，包括以下步骤：

对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后，导出二进制坏块表；

将二进制坏块表转换成文本形式坏块表；

基于预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析，获得坏块信息。

进一步地，预存规则包括解析单元划分规则和数据解析规则。

进一步地，所获得坏块信息包括坏块逻辑地址、通道、逻辑单元、片选信号、擦除块。

进一步地，该方法还包括，

将获得的坏块信息进行可视化显示，并存入数据库。

本发明的技术方案还包括一种NVMe固态硬盘坏块解析装置，包括，

坏块表导出模块：对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后，导出二进制坏块表；

坏块表转换模块：将二进制坏块表转换成文本形式坏块表；

坏块表解析模块：基于预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析，获得坏块信息。

进一步地，预存规则包括解析单元划分规则和数据解析规则。

进一步地，所获得坏块信息包括坏块逻辑地址、通道、逻辑单元、片选信号、擦除块。

进一步地，该装置还包括，

信息显示模块：将获得的坏块信息进行可视化显示；

信息保存模块：将所获得的坏块信息存入数据库。

本发明的技术方案还包括一种终端，包括：

处理器；

用于存储处理器的执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行上述任一项所述的方法。

本发明的技术方案还包括一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质，该程序被处理器执行时实现上述任一项所述的方法。