[发明专利]纳米材料的高分辨成像装置及其成像分析方法

权利要求书

1.一种纳米材料的高分辨成像装置，包括：纳米电化学控制模块、高分辨率电化学成像模块和控制模块；

所述纳米电化学控制模块包括电化学工作站和电化学池，所述电化学池包括镀金属纳米薄膜玻璃片和三电极装置；

所述高分辨率电化学成像模块包括光源、x/y扫描振镜装置、数据采集卡、成像放大装置、镀金属纳米薄膜玻璃片和图像信息采集装置；所述图像信息采集装置为电感耦合相机；

所述镀金属纳米薄膜玻璃片由覆盖一层或多层金属薄膜的半导体透明基底组成，所述金属薄膜中的金属选自金、银、铜、铝或其他能激发产生表面等离子体激元的金属；

所述控制模块包括电化学工作站控制程序、x/y扫描振镜控制程序和图像信息采集控制程序；

所述电化学工作站的输出端与所述三电极装置的输入端相连；

所述三电极装置的输出端与工作电极的输入端相连；

所述光源用于发射激光，所述x/y扫描振镜装置用于控制激光旋转速度和角度，所述数据采集卡用于操作所述x/y扫描振镜装置，所述成像放大装置用于放大光学成像倍数，所述镀金属纳米薄膜玻璃片用于激发产生表面等离子体激元共振波，所述图像信息采集装置用于采集图像信息；

所述的高分辨成像装置分析单颗粒水平纳米材料的方法，包括以下步骤：

将纳米材料分散置于镀金属纳米薄膜玻璃片上，启动纳米电化学控制模块设置电化学测试参数；

光源经过x/y扫描振镜装置调制成入射光，经过成像装置后激发金属纳米薄膜产生表面等离子体激元，表面等离子体激元在传播过程中经过所述纳米材料时，激发产生散射光，信号被图像信息采集装置收集；

所述分析纳米材料包括：单颗粒水平下纳米材料高通量筛选和高分辨率解析、单根纳米线电化学活性的高分辨成像、不同种类纳米颗粒的高通量分析识别或高通量纳米颗粒电化学活性原位检测。

2.根据权利要求1所述的高分辨成像装置，其特征在于，所述成像放大装置为光学显微物镜。

3.根据权利要求1所述的高分辨成像装置，其特征在于，所述光源选自超连续激光、其他能激发产生表面等离子体激元的光源或采用特定波长的单色激光光源。

4.根据权利要求1所述的高分辨成像装置，其特征在于，所述纳米材料选自零维纳米颗粒、一维纳米线或二维纳米片材料。