[发明专利]一种确定微米级榍石高精度年龄的方法有效

专利信息
申请号: 202110057871.7 申请日: 2021-01-15
公开(公告)号: CN112927762B 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 凌潇潇;李秋立;刘宇;唐国强;李娇;马红霞 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G16C20/30 分类号: G16C20/30;G01N23/2258
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 巴晓艳
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 确定 微米 级榍石 高精度 年龄 方法
【权利要求书】:

1.一种确定微米级榍石高精度年龄的方法,其特征在于,所述方法利用榍石的测量铅铀离子比与测量铁信号强度56Fe16O+之间的相关关系,对所述测量铅铀离子比进行校正,得到校正铅铀离子比再根据所述校正铅铀离子比与测量铀离子比之间的正相关关系,计算得到榍石的校正铅铀同位素比最后根据所述校正铅铀同位素比得到榍石的铅铀年龄tsample

所述方法具体包括如下步骤:

S1、采用二次离子质谱仪对待测榍石样品进行测量,直接得到待测榍石样品的测量铅铀离子比及待测榍石样品的二次离子中的铁信号强度56Fe16O+与一次离子束强度PB的比值56Fe16O+/PB;待测样品的所述校正铅铀离子比计算公式如下:

S2、基于标准样品,对待测样品的铅铀同位素比进行校正,得到待测样品的所述校正铅铀同位素比值

其中,为标准样品的铅铀同位素比;为待测样品的校正铅铀离子比;为待测样品的测量铀离子比;A、B为回归系数,通过标准样品测量数据回归得到;

S3、确定待测样品的铅铀年龄tsample

其中:λ238是衰变常数,λ238=1.55125×10-10

2.如权利要求1所述的确定微米级榍石高精度年龄的方法,其特征在于,步骤S2中,所述标准样品为一种已知年龄的榍石标准样品,所述标准样品为榍石BLR-1或榍石YQ82。

3.如权利要求1所述的确定微米级榍石高精度年龄的方法,其特征在于,步骤S2中,回归系数A、B的确定方法为:

对已知年龄的榍石标准样品BLR-1进行测量获得10组数据,并将测量数据和按照如下公式进行校正;

得到的与按照如下函数关系进行拟合;

通过拟合得到回归系数A、B的值。

4.如权利要求1所述的确定微米级榍石高精度年龄的方法,其特征在于,制作待测榍石样品和标准样品,并将待测榍石样品和标准样品拼合做成拼合样品靶,便于在同一仪器条件下对待测榍石样品和标准样品同时进行试验检测。

5.如权利要求4所述的确定微米级榍石高精度年龄的方法,其特征在于,所述拼合样品靶的具体制备流程包括:

S0.1制作标准样品薄片:

采用静电制靶技术将7-10粒粒径为100-150微米的榍石标样镶嵌到一个直径约2毫米,厚1-2毫米的圆形树脂薄片中,使得榍石标样在树脂薄片的一侧表面上露出来;

S0.2制作待测榍石样品薄片:

钻取待测样品,得到直径约25毫米,厚2毫米的圆形待测薄片,在所述待测薄片中心位置钻一个直径5毫米的孔;

S0.3制作拼合样品靶:

在一个玻璃片上粘双面胶,步骤S0.2中得到的待测薄片有榍石样品的一面朝下粘在双面胶上,将步骤S0.1中得到的树脂薄片放入待测薄片的5毫米孔中间,榍石裸露的一面朝下粘在双面胶上;在树脂薄片和待测薄片的中间环形缝隙中填上树脂,树脂凝固后形成拼合样品靶;所述拼合样品靶同时具有榍石待测样品和标准样品。

6.如权利要求5所述的确定微米级榍石高精度年龄的方法,其特征在于,步骤S0.1中,所述标准样品薄片上的榍石标样为1种,或2种,或若干种已知年龄的榍石品种。

7.如权利要求6所述的确定微米级榍石高精度年龄的方法,其特征在于,所述已知年龄的榍石品种包括榍石标样YQ82和榍石标样BLR-1。

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