[发明专利]连板老化测试系统在审
申请号: | 202110033755.1 | 申请日: | 2021-01-12 |
公开(公告)号: | CN112730915A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 彭水良 | 申请(专利权)人: | 华精机(苏州)机械科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28;G01R31/26 |
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地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 老化 测试 系统 | ||
本发明涉及老化测试技术领域,尤其涉及连板老化测试系统,解决现有技术中存在的缺点,包括机箱,所述机箱的内部开设有四个呈阵列分布的测试腔,所述测试腔的内部滑动装配有载具,且测试腔的内部设置有测试板,载具上固定安装有加热板,且机箱的一侧通过销轴活动连接有与所述测试腔相对应的门板,门板的一侧活动铰接有转动座,所述转动座的内部滑动设置有伸缩连杆,伸缩连杆的另一端与所述载具活动铰接;通过门板、转动座、伸缩连杆以及载具等结构的设置,在放置和拿取产品时,门板和载具之间联动,在打开门板时载具同时移出,载具滑动时门板可自动关闭,方便人员操作,工作效率高。
技术领域
本发明涉及老化测试技术领域,尤其涉及连板老化测试系统。
背景技术
老化测试板简称“老化板”是测试芯片和集成电路板等待测电子器件常用的测试部件,其一般设置在老化测试架上,并装载在老化测试装置内对待测器件进行老化测试。
现有技术中的老化测试设备存在以下缺陷:一是产品的放置和取出繁琐,不便于人员操作;二是当某块产品完成老化测试后,其内部遗留的热量自然散开,浪费资源;三是设备的功能单一,只能进行老化试验。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的连板老化测试系统。
为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
连板老化测试系统,包括机箱,所述机箱的内部开设有四个呈阵列分布的测试腔,所述测试腔的内部滑动装配有载具,且测试腔的内部设置有测试板,载具上固定安装有加热板,且机箱的一侧通过销轴活动连接有与所述测试腔相对应的门板,门板的一侧活动铰接有转动座,所述转动座的内部滑动设置有伸缩连杆,伸缩连杆的另一端与所述载具活动铰接;
所述机箱的一侧通过螺丝固定有导向块,导向块的内部滑动设置有压杆,压杆的一端装设有滚轮,滚轮与所述门板的一侧贴紧接触,压杆的另一端焊接有连接杆,所述连接杆的另一端通过螺钉固定有连接板,连接板的一侧固定设置有滑动块;
所述机箱上开设有与所述测试腔相连通的通槽,其中三个通槽的底壁上开设有第一节能孔,其中三个通槽的顶壁上开设有第二节能孔,所述第一节能孔和第二节能孔延伸至相邻的测试腔内部。
优选的,所述转动座的内部开设有滑槽,所述伸缩连杆与滑槽滑动连接。
优选的,所述伸缩连杆的端部通过卡块固定连接有第一弹簧,第一弹簧的另一端与所述滑槽的侧壁固定连接。
优选的,所述导向块的内部开设有导向孔,所述压杆与导向孔滑动连接。
优选的,所述压杆的外部套设有第二弹簧,第二弹簧的两端分别与导向块和连接杆固定连接。
优选的,所述滑动块与通槽密封滑动连接。
优选的,还包括依次连接的电源电压取样及B电源跟随A电源控制电路、第一通讯电路、第二控制电路、IIC通讯电压采集电路、电源A和B基准产生转换电力以及MCU主控制电路。
本发明的有益效果是:
1、本发明中通过门板、转动座、伸缩连杆以及载具等结构的设置,在放置和拿取产品时,门板和载具之间联动,在打开门板时载具同时移出,载具滑动时门板可自动关闭,方便人员操作,工作效率高。
2、本发明中通过滚轮、压杆、连接板、连接杆、滑动块以及节能孔等结构的设置,当一层测试腔内部完成老化试验后,门板打开可使得滑动块滑移,从而使得该层一侧通槽中的节能孔打开,利用负压装置将热流送入其他测试腔中使用,可节省能源消耗。
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