[发明专利]用于遮挡检测的系统和方法

权利要求书

1.一种系统，包括：

主反射表面；

可旋转镜，被配置为围绕旋转轴线旋转，其中，所述可旋转镜包括多个辅反射表面；

光学元件；以及

相机，其中，所述相机被配置为通过所述主反射表面和所述可旋转镜的至少一个辅反射表面来捕获所述光学元件的至少一个图像。

2.根据权利要求1所述的系统，还包括具有至少一个处理器和存储器的控制器，其中，所述至少一个处理器执行存储在存储器中的程序指令以执行操作，所述操作包括：

使所述可旋转镜围绕所述旋转轴线旋转；以及

使所述相机通过所述主反射表面和所述可旋转镜的至少一个辅反射表面捕获所述光学元件的多个图像，其中，所述多个图像中的每个图像以所述至少一个辅反射表面的对应镜角度被捕获。

3.根据权利要求2所述的系统，还包括照明器，其中，所述操作还包括：

在使所述相机捕获多个图像时，使所述照明器以频闪方式发射光，以通过所述主反射表面和所述可旋转镜照射所述光学元件。

4.根据权利要求3所述的系统，基于所述多个图像和所述至少一个辅反射表面的对应镜角度来确定所述光学元件的聚合图像。

5.根据权利要求3所述的系统，其中，所述操作还包括：

基于所述聚合图像来确定至少一个遮挡对象存在于所述光学元件上。

6.根据权利要求1所述的系统，还包括照明器，所述照明器被配置为发射光以通过所述主反射表面和所述可旋转镜来照射所述光学元件。

7.根据权利要求6所述的系统，其中，所述照明器包括红外发光二极管LED。

8.根据权利要求1所述的系统，其中，所述主反射表面包括矩形镜。

9.根据权利要求8所述的系统，其中，所述主反射表面的纵横比为至少8：1。

10.根据权利要求8所述的系统，其中，所述主反射表面的长轴线与所述旋转轴线基本平行。

11.根据权利要求1所述的系统，其中，相机包括固定焦距透镜，所述固定焦距透镜被配置为通过所述主反射表面和所述至少一个辅反射表面聚焦在所述光学元件上。

12.根据权利要求1所述的系统，其中，所述相机包括固定焦距透镜，所述固定焦距透镜被配置为将所述相机聚焦在所述光学元件上。

13.根据权利要求1所述的系统，其中，所述可旋转镜的形状包括矩形棱柱或三角形棱柱中的至少一个。

14.一种光检测和测距lidar系统，包括：

发送器；

接收器；

光学元件；

可旋转镜，被配置为围绕旋转轴线旋转，其中，所述可旋转镜包括多个辅反射表面；

相机，其中，所述相机被配置为通过所述可旋转镜的至少一个辅反射表面捕获所述光学元件的至少一个图像；和

控制器，具有至少一个处理器和存储器，其中，所述至少一个处理器执行存储在所述存储器中的程序指令以执行操作，所述操作包括：

使所述可旋转镜围绕所述旋转轴线旋转；以及

使所述相机通过所述可旋转镜的至少一个辅反射表面捕获所述光学元件的多个图像，其中，所述多个图像中的每个图像以所述至少一个辅反射表面的对应反射角度被捕获。

15.根据权利要求14所述的lidar系统，基于所述多个图像和所述至少一个辅反射表面的对应镜角度来确定所述光学元件的聚合图像。

16.根据权利要求14所述的lidar系统，其中，所述操作还包括：

基于聚合图像来确定至少一个遮挡对象存在于所述光学元件上。