[发明专利]光学式分选机

说明书

一种光学式分选机，其具备：滑槽，其为了使分选对象物流下而倾斜配置；光学检测单元，其在检测位置对所述分选对象物进行检测；以及喷射器单元，其基于所述光学检测单元的检测结果，对所述分选对象物进行分选去除，在所述滑槽，与所述分选对象物的流下方向正交地设置有光学检测用狭缝，所述光学检测用狭缝能够调整狭缝宽度，所述光学检测单元将设置有所述光学检测用狭缝的位置设为所述检测位置，通过所述拍摄单元对在所述滑槽上流下的所述分选对象物进行拍摄。

技术领域

本发明涉及对粒状物进行分选的光学式分选机。

背景技术

以往，已知有一种光学式分选机，其将由米、小麦等谷粒、树脂颗粒、咖啡豆、其他粒状物构成的原料通过其色彩等分选为合格品和不合格品，或者通过色彩等判别混入到原料中的异物并除去。(参照专利文献1和专利文献2)。

专利文献1和专利文献2所记载的光学式分选机具备倾斜的滑槽，对从上述滑槽的下端描绘一定的轨迹而落下的粒状物照射来自光源的光，利用传感器接受来自上述粒状物的反射光或透射光来检测不合格品、异物等。并且，通过利用喷射器吹飞检测出的不合格品、异物等，来分选粒状部的合格品和不合格品。

然而，在上述的光学式分选机中，在从滑槽的下端落下的粒状物中，存在因粒状物的形状、大小的差异、空中的飞行姿势的差异等而从一定的落下轨迹脱离的粒状物。在该情况下，无法高精度地检测不合格品、异物等，有可能对分选性能产生影响。

因此，本申请的申请人在滑槽中设置成为粒状物的检测位置的光学检测用狭缝。并且，提出了向在滑槽上流下的粒状物照射光，利用传感器接受来自粒状物的反射光或透射光来检测不合格品、异物等的光学式分选机(参照日本特愿2019-209821号。以下，称为“先行发明”)。

根据上述的先行发明的光学式分选机，由于能够检测在滑槽上始终以恒定的轨迹流下的粒状物，因此与以往的光学式分选机相比，能够高精度地检测出粒状物的不合格品、异物等，能够提高分选性能。

但是，在上述的先行发明的光学式分选机中，根据成为原料的粒状物的大小，光学检测用狭缝的缘部成为阴影，粒状物的检测所需的光量不足，有可能导致分选不良。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平8-252535号公报

专利文献2：日本特开2009-50760号公报

发明内容

发明所要解决的课题

因此，本发明的目的在于提供一种光学式分选机，即使在高精度地检测作为分选对象物的粒状物的不合格品、异物等而提高分选性能、并且将作为分选对象物的粒状物变更为大小不同的物质的情况下，也能够确保作为分选对象物的粒状物的检测所需要的光量，不会产生光量不足引起的分选不良。

用于解决课题的手段

为了实现上述目的，本发明的光学式分选机，其具备：

滑槽，其为了使分选对象物流下而倾斜配置；

光学检测单元，其在检测位置对所述分选对象物进行检测；以及

喷射器单元，其基于所述光学检测单元的检测结果，对所述分选对象物进行分选去除，

其特征在于，

所述光学检测单元具备：

照明单元，其对所述检测位置进行照明；以及

拍摄单元，其在所述检测位置对所述分选对象物进行拍摄，

在所述滑槽，与所述分选对象物的流下方向正交地设置有光学检测用狭缝，