[发明专利]用于收集存储装置统计数据的系统及方法

说明书

本文中所描述的各种实施方案涉及用于收集固态驱动器(SSD)统计数据的系统及方法。控制器响应于从主机接收到起动命令，在所述SSD的存储装置中创建对应于时隙的时隙区域，从所述SSD的一或多个模块收集第一统计数据，及将所述第一统计数据存储在所述时隙区域中。此外，所述控制器响应于接收到停止命令，从所述一或多个模块收集第二统计数据，及将所述第一统计数据及所述第二统计数据发送到所述主机。

技术领域

本公开大体上涉及用于在固态驱动器(SSD)存储装置中收集统计数据的系统及方法。

背景技术

SSD固件的用户或固件开发者可能对获得SSD的统计数据以评估SSD的各个方面感兴趣。通常，存储装置提供用来记录所关注事件且供主机装置请求具有所述事件的细节的日志页面的内容的设施。然而，无法控制事件的记录时间。

发明内容

在某些方面中，本实施方案涉及收集SSD统计数据。例如，控制器响应于从主机接收到起动命令，在所述SSD的存储装置中创建对应于时隙的时隙区域，从所述SSD的一或多个模块收集第一统计数据，及将所述第一统计数据存储在所述时隙区域中。此外，所述控制器响应于接收到停止命令，从所述一或多个模块收集第二统计数据，及将所述第一统计数据及所述第二统计数据发送到所述主机。

附图说明

图1展示根据一些实施方案的SSD的实例的框图；

图2是说明根据各个实施方案的SSD统计数据的基于时隙的收集的图；

图3是说明根据各个实施方案的用于收集SSD统计数据的实例方法的过程流程图；及

图4是说明根据各个实施方案的用于收集SSD统计数据的实例方法的过程流程图。

具体实施方式

除了其它方面外，本公开尤其涉及收集及传输SSD的统计数据，以及对获得存储装置的统计数据及事件日志的改进。由SSD的控制器实施的固件可随时间收集此统计数据，其可包含(但不限于)事件信息日志、错误信息日志、代码跟踪日志、存储及电力使用信息、驱动信息、遥测、自测结果及性能统计数据。经收集统计数据可用于确定SSD的(例如，其NAND快闪存储器装置)的总体健康状况、调试SSD固件问题、验证SSD固件、特性化SSD性能等等。

在一些实施方案中，一或多个时隙经定义用于收集统计数据。在一些实例中，每一时隙对应于在其期间收集统计数据的时间间隔。针对一时隙收集的统计数据可提供SSD的操作的快照，所述快照在实例中可用于调试SSD固件问题。在一些实施方案中，时隙具有开始时间及结束时间。时隙的持续时间的实例包含但不限于一或多秒、一或多分钟、一或多小时等等。在一些实例中，结束时间对应SSD固件遇到问题或SSD固件出故障的时刻。在一些实例中，针对每一时隙收集的统计数据一起存储在SSD的数据存储装置(例如，缓冲器)中。

为了辅助说明本实施方案，图1展示根据一些实施方案的SSD 100的框图。SSD 100是至少包含控制器110及非易失性存储器存储装置120的非易失性存储器存储装置。为简洁起见，未展示SSD 100的其它组件。非易失性存储器存储装置120是包含NAND快闪存储器装置130的存储器阵列。NAND快闪存储器装置130中的每一者包含一或多个个别NAND快闪存储器裸片，所述NAND快闪存储器裸片是能够在没有电力的情况下保留数据的非易失性存储器。每一裸片具有一或多个平面。每一平面具有多个块，且每一块具有多个页面。虽然NAND快闪存储器装置130被展示为非易失性存储器存储装置120的实例，但用于实施非易失性存储器存储装置120的非易失性存储器技术的其它实例包含(但不限于)磁性随机存取存储器(MRAM)、相变存储器(PCM)、铁电RAM(FeRAM)等。