[发明专利]非线性校正在审
| 申请号: | 202080082422.1 | 申请日: | 2020-10-05 |
| 公开(公告)号: | CN114762257A | 公开(公告)日: | 2022-07-15 |
| 发明(设计)人: | P·古普塔;J·坦古杜;A·保罗斯 | 申请(专利权)人: | 德州仪器公司 |
| 主分类号: | H03M1/08 | 分类号: | H03M1/08;H03M1/34 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 林斯凯 |
| 地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 非线性 校正 | ||
本发明涉及一种用于非线性校正的方法(600),其包含从含有第一模/数转换器的数据信号路径接收(608、622)第一输出信号,以及从第二模/数转换器接收第二输出信号。所述方法还包含使用所述第一输出信号产生(624、626、628)第一非线性系数,以及使用所述第一及所述第二输出信号产生(610、612、614、616)第二非线性系数。所述方法进一步包含通过所述数据信号路径中的非线性校正器应用(634)所述第一及第二非线性系数来补偿从所述第一模/数转换器输出的数字化信号中的非线性分量,以产生经校正数字化信号。
技术领域
本发明大体上涉及非线性校正,且更具体地来说,涉及在系统内产生非线性校正系数及执行非线性校正。
背景技术
例如移动电话、音频及视频设备、有线通信系统、测量设备、雷达系统等的电子系统可包含一或多个非线性电路或组件,其可对系统的性能产生不利影响。一个此类非线性电路是模/数转换器(“ADC”),其将连续时间模拟信号(例如,电压或电流)转换成与连续时间信号的量值成比例的离散时间表示(数字或数字化信号)。但是,系统内可存在其它非线性源,例如来自(例如)在安装ADC的用户端处的印刷电路板(“PCB”或“板”)上的电路。还可存在由连续时间信号的发射器的组件引起的“源非线性”。非线性校正器可用于补偿系统内的非线性。
发明内容
随着技术的进步,一些非线性校正方法可能无法满足目标性能规范。例如,无线基础设施(“WI”)市场正朝着基于射频ADC(“RF-ADC”)的采样架构发展,这是因为其易于支持多频带及较宽的带宽,而板空间减小。因此,关键关注点包含RF-ADC非线性性能度量,例如二阶及三阶谐波失真以及二阶及三阶互调失真。实例目标无杂散动态范围(“SFDR”)规范在各种接收器操作场景下为-80dBFS,例如在各种输入电平、奈奎斯特(Nyquist)区(频率)及温度范围(例如,-40C到125C)下。但是,当未经校正ADC输出信号电平为-55dBFS(这在一些应用中发生)时,-80dBFS的目标SFDR是具有挑战性的。
另外,可存在由用户端处的板电路引起的非线性(例如二阶非线性)及由于温度、电压变化及/或老化效应引起的非线性,如果不校正,这使得难以满足目标性能规范。此外,希望在不校正源非线性的情况下校正由ADC(及例如驻留在具有ADC的芯片上的其它电路)引起的非线性及由板电路及系统内的其它效应引起的非线性。例如,源非线性可由发射器的RF功率放大器及数字预失真电路引起。
校正或补偿系统中的非线性的一种解决方案是对从ADC输出的数字信号应用工厂校准的非线性校正。即,在生产时,针对一定范围的采样率、奈奎斯特区及数字步进衰减器(DSA)索引确定非线性校正系数,且将其存储在存储器中。在运行期间,基于接收器配置,从存储器将适当的非线性校正系数编程到非线性校正器中。但是,这种方法有一些限制。例如,执行工厂内校准所需的时间及存储系数所需的存储器增加装置成本。此外,工厂校准不考虑其它非线性源(例如由其上安装ADC的板引起的二阶非线性)以及由于温度、电压及/或老化引起的变化。
所公开的非线性校正的实例解决这些限制。根据本公开的一或多个实例,从含有板电路、主(例如,第一)ADC及非线性校正器的数据信号路径输出的数字信号用于确定或产生(例如,通过估计)非线性校正器用于校正从主ADC输出的数字信号的一些非线性校正系数。例如,从数据信号路径输出的数字信号用于确定用于校正例如由主ADC(以及与主ADC共同定位的电路)引起及由板电路引起的二阶非线性的非线性校正系数。此外,从数据信号路径及从含有参考(例如,第二)ADC的参考路径两者输出的数字信号用于估计非线性校正器使用的非线性校正系数的剩余者。例如,参考路径用于减去含有源非线性及由板电路引起的二阶非线性的信号,以便确定用于校正例如由主ADC(以及与主ADC共同定位的电路)引起的三阶非线性的非线性校正系数。
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