[发明专利]制造电极组件的设备和方法以及制造包括该电极组件的二次电池的方法

权利要求书

1.一种制造电极组件的方法，所述方法包括：

步骤(a)，将其中第一电极、隔膜、第二电极和隔膜顺序地堆叠的多个基本单元从第一设定位置逐个传送至第二设定位置；

步骤(b)，包括测量距离A的工序，在测量距离A的工序中，在所述第一设定位置处拍摄所述基本单元，以测量距离(A1)、距离(A2)以及距离(An)，所述距离(A1)是设置在被拍摄的第一基本单元中的第一电极的全宽端部，即全宽方向上的端部与设置在被拍摄的第一基本单元中的第二电极的全宽端部，即全宽方向上的端部之间的距离；所述距离(A2)是设置在被拍摄的第二基本单元中的第一电极的全宽端部，即全宽方向上的端部与设置在被拍摄的第二基本单元中的第二电极的全宽端部，即全宽方向上的端部之间的距离；所述距离(An)是设置在被拍摄的第n基本单元中的第一电极的全宽端部，即全宽方向上的端部与设置在被拍摄的第n基本单元中的第二电极的全宽端部，即全宽方向上的端部之间的距离；

步骤(c)，包括测量距离B1的工序，在测量距离B1的工序中，当被测量了所述距离A1的所述第一基本单元传送至所述第二设定位置时，测量从所述第二设定位置的基准点(O)到所述第一基本单元的所述第一电极的所述全宽端部的距离B1；

步骤(d)，将经由所述第一设定位置传送至所述第二设定位置的所述第二基本单元堆叠在所述第一基本单元上；

步骤(e)，包括测量从所述第二设定位置的所述基准点(O)到所述第二基本单元的所述第一电极的所述全宽端部的距离B2的工序；

步骤(f)，包括通过将所述距离B2和所述距离A2彼此相加，然后从所述距离B2和所述距离A2之和减去所述距离B1来测量所述第一基本单元的所述第一电极的所述全宽端部与所述第二基本单元的所述第二电极的所述全宽端部之间的距离(C1)的工序；以及

步骤(g)，包括全宽检查工序，在所述全宽检查工序中，将所述距离C1与所述距离A1彼此进行比较，当所述距离C1与所述距离A1之间的差异值处于输入的偏差值以内时，判定为正常堆叠，当所述差异值处于所述输入的偏差值之外时，判定为有缺陷的堆叠。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述步骤(b)进一步包括以下工序：当在测量所述距离A1的工序中测量的所述距离A1处于输入的设定值以内时，判定为正常堆叠，当所述距离A1处于所述输入的设定值之外时，判定为有缺陷的堆叠。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述步骤(b)进一步包括以下工序：当判定所述基本单元在所述第一设定位置处是有缺陷的时，去除所述基本单元，从而不传送至所述第二设定位置。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述步骤(b)中，通过使用视觉对齐测试仪在所述第一设定位置处测量所述基本单元的所述第一电极的所述全宽端部与所述基本单元的所述第二电极的全宽端部之间的距离。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述步骤(c)进一步包括以下工序：检查所述第二设定位置的所述基准点(O)与所述第一基本单元的基准点是否彼此一致，

其中所述基本单元的所述基准点是在全宽方向上将所述基本单元等分的线与在全长方向上将所述第一基本单元等分的线彼此交叉的点。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述步骤(c)进一步包括以下工序：当所述第二设定位置的所述基准点(O)与所述基本单元的所述基准点彼此不一致时，移动所述基本单元，以使得所述第二设定位置的所述基准点(O)与所述基本单元的所述基准点彼此一致。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述步骤(g)进一步包括以下工序：当在所述全宽检查工序中判定为有缺陷的堆叠时，将所述第二基本单元的位置调整通过将所述距离C1与所述第一基本单元的所述距离A1进行比较而获得的差异值。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述步骤(a)中，所述第一电极具有比所述第二电极的面积小的面积。