[发明专利]固态成像元件、成像装置和用于控制固态成像元件的方法

权利要求书

1.一种固态成像元件，包括：

多个检测像素，每个检测像素生成与光电流的对数值对应的电压信号；以及

检测电路，检测所述多个检测像素中由输入选择信号指示的检测像素的所述电压信号的变化量是否超过预定的阈值。

2.根据权利要求1所述的固态成像元件，其中，

所述检测电路包括：

选择单元，选择所述多个检测像素中的每一个检测像素的所述电压信号中的任一个；

差分器，获得并输出选择的所述电压信号的变化量；以及

比较单元，将输出的所述变化量与所述阈值进行比较。

3.根据权利要求2所述的固态成像元件，其中，

所述差分器保持选择的变化量并且将所述选择的变化量输出至所述比较单元。

4.根据权利要求2所述的固态成像元件，其中，

所述差分器保持所述多个检测像素中的每一个检测像素的所述变化量，并且将与选择的检测像素对应的所述变化量输出至所述比较单元。

5.根据权利要求1所述的固态成像元件，其中

所述多个检测像素中的每一个包括：

对数响应单元，生成所述电压信号；以及

差分器，获得生成的所述电压信号的变化量并且将所述变化量输出至所述检测电路。

6.根据权利要求5所述的固态成像元件，其中，所述检测电路包括比较单元，所述比较单元选择所述多个检测像素中的每一个检测像素的变化量中的任一个并将选择的变化量与所述阈值进行比较。

7.根据权利要求5所述的固态成像元件，其中

所述检测电路包括：

选择单元，选择所述多个检测像素中的每一个检测像素的变化量中的任一个；以及

比较单元，将选择的变化量与所述阈值进行比较。

8.根据权利要求7所述的固态成像元件，其中，

所述阈值包括彼此不同的上限阈值和下限阈值，并且

所述检测电路包括：

上限侧比较器，将所述上限阈值与所述变化量进行比较；以及

下限侧比较器，将所述下限阈值与所述变化量进行比较。

9.根据权利要求7所述的固态成像元件，其中，

所述阈值包括彼此不同的上限阈值和下限阈值，并且

所述检测电路包括：

选择开关，选择所述上限阈值或所述下限阈值；以及

比较器，将选择的阈值与所述变化量进行比较。

10.根据权利要求1所述的固态成像元件，进一步包括：多个灰度像素，每个灰度像素生成对应于曝光量的像素信号。

11.根据权利要求1所述的固态成像元件，其中，

所述阈值包括彼此不同的上限阈值和下限阈值，并且

所述检测电路包括：

上限侧选择器，选择两个检测像素中的一个检测像素的所述变化量；

下限侧选择器，选择所述两个检测像素中的另一个检测像素的所述变化量；

上限侧比较器，将选择的所述一个检测像素的所述变化量与所述上限阈值进行比较；以及

下限侧比较器，将选择的所述另一个检测像素的所述变化量与所述上限阈值进行比较。

12.根据权利要求1所述的固态成像元件，其中，

所述检测电路包括：

多个比较器，将彼此不同的所述检测像素的所述变化量与阈值进行比较；

选择单元，选择所述多个比较器中任一个比较器的比较结果；以及

缓冲器，输出选择的所述比较结果。

13.根据权利要求1所述的固态成像元件，其中，

所述多个检测像素和所述检测电路的一部分设置在预定的光接收芯片上，并且

所述多个检测像素和所述检测电路的其余部分设置在预定的检测芯片上。