[发明专利]成像器健康监测系统和方法

说明书

公开了用于成像器健康监测系统和方法的技术。在一个示例中，一种方法包括确定焦平面阵列(FPA)的有效单位单元和/或FPA的参考单位单元的特性。有效单位单元包括被选择性地屏蔽入射场景的检测器。参考单位单元包括被屏蔽入射场景的参考检测器。该方法还包括至少部分地基于该特性来确定FPA的状态。该方法还包括传输FPA的状态的指示，以选择性地引起FPA的调整。还提供了相关设备和系统。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2019年5月17日提交且名称为“成像器健康监测系统和方法(IMAGERHEALTH MONITORING SYSTEMS AND METHODS)”的美国临时专利申请第62/849,479号的优先权和权益，该申请的全部内容通过引用并入本文。

技术领域

一个或多个实施例总体上涉及成像系统，并且更具体地，例如，涉及成像器健康监测系统和方法。

背景技术

成像系统可以包括检测器阵列，每个检测器用作像素以产生二维图像的一部分。存在各种各样的图像检测器，例如可见光图像检测器、红外图像检测器或可以设置在图像检测器阵列中用于捕获图像的其他类型的图像检测器。例如，可以在图像检测器阵列中设置多个传感器，以检测期望波长的电磁(EM)辐射。在一些情况下，例如对于红外成像，由检测器捕获的图像数据的读出可以由读出集成电路(ROIC)以时分复用方式执行。读出的图像数据可以传送到其他电路，例如进行处理、存储和/或显示。在某些情况下，检测器阵列和ROIC的组合可称为焦平面阵列(FPA)。FPA和图像处理工艺技术的进步提高了所得成像系统的能力和复杂性。

发明内容

在一个或多个实施例中，一种方法包括确定焦平面阵列的至少一个有效单位单元和/或焦平面阵列的至少一个参考单位单元的特性。至少一个有效单位单元包括被选择性地屏蔽入射场景的检测器。至少一个参考单位单元包括被屏蔽入射场景的参考检测器。该方法还包括至少部分地基于该特性确定焦平面阵列的状态。该方法还包括传输焦平面阵列的状态的指示，以选择性地引起焦平面阵列的调整。

在一个或多个实施例中，一种成像系统包括焦平面阵列。焦平面阵列包括多个有效单位单元。每个有效单位单元包括被配置为响应于入射场景选择性地生成输出的检测器。焦平面阵列还包括多个参考单位单元。每个参考单位单元包括检测器和被配置成阻挡入射场景不被参考单位单元的检测器接收的结构。该成像系统还包括处理电路，其被配置为确定多个有效单位单元中的至少一个有效单位单元和/或多个参考单位单元中的至少一个参考单位单元的特性。处理电路还被配置为至少部分地基于该特性来确定焦平面阵列的状态。处理电路还被配置为传输焦平面阵列的状态的指示，以选择性地引起焦平面阵列的调整。

在一个或多个实施例中，一种方法包括接收包括数据和第一散列值的图像。该方法还包括基于该数据生成第二散列值。该方法还包括基于第一散列值和第二散列值确定图像的有效性。

本公开的范围由权利要求限定，权利要求通过引用并入本部分。通过考虑对一个或多个实施例的以下详细描述，将向本领域技术人员提供对本公开的实施例的更完整理解，以及实现其附加优点。将参考将首先简要描述的附图。

附图说明

图1示出了根据本公开的一个或多个实施例的示例成像系统的框图。

图2A示出了根据本公开的一个或多个实施例的示例图像传感器组件的框图。

图2B示出了根据本公开的一个或多个实施例的示例图像传感器组件。

图3A、3B和3C分别表示了根据本公开的一个或多个实施例的固定模式噪声、随机噪声以及固定模式噪声和随机噪声的加权和的功率谱密度。

图4示出了示出根据本公开的一个或多个实施例的用于测量微测辐射热计电阻的电路的示例的电路图以及微测辐射热计的侧视图。

图5示出了根据本公开的一个或多个实施例的作为时间函数的测辐射热计的电阻变化的示例图。