[发明专利]使用偏振光的光学传感器模块

权利要求书

1.一种装置，包括：

光学模块，其包括：

发射通道，其能够操作以发射具有第一偏振的光，所述发射通道包括能够操作以产生光的光发射器；以及

检测通道，其能够操作以选择性地检测与所述第一偏振正交的第二偏振的光，所述检测通道包括光接收器，所述光接收器能够操作以检测与所述光发射器发射的光具有相同波长的光。

2.根据权利要求1所述的装置，还包括盖玻片，其中所述光学模块能够操作以使得由所述光发射器产生的光中的至少一些透射通过所述盖玻片，并且使得透射通过所述盖玻片并且被物体朝向所述模块向回反射通过所述盖玻片的光中的至少一些被所述光接收器检测。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其中所述发射通道能够操作以发射具有第一线性偏振的光，并且所述检测通道能够操作以选择性地检测与所述第一线性偏振正交的第二线性偏振的光。

4.根据权利要求1或2所述的装置，其中所述发射通道能够操作以发射具有第一圆偏振的光，并且所述检测通道能够操作以选择性地检测与所述第一圆偏振正交的第二圆偏振的光。

5.根据前述权利要求中任一项所述的装置，包括设置在发射通道中的偏振器，以便与所述光发射器产生的光相交。

6.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中所述光发射器包括被集成为所述光发射器的一部分的光学偏振器。

7.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中所述光发射器包括具有非对称孔径的VCSEL结构。

8.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中所述光发射器包括具有反射光栅的VCSEL结构。

9.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中所述光发射器包括具有亚波长反射光栅的VCSEL结构。

10.根据前述权利要求中任一项所述的装置，包括偏振分析器，所述偏振分析器能够操作以选择性地仅允许具有所述第二偏振的光穿过，以供所述光接收器检测。

11.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中所述光接收器包括被集成为所述光接收器的一部分的光学偏振器。

12.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中所述光学模块设置在便携式计算设备的盖玻片后面。

13.一种方法，包括：

使光从光学模块朝向物体透射通过便携式计算设备的盖玻片，其中通过所述盖玻片发射的光具有第一偏振；

在所述模块中接收被所述物体反射并且穿过所述盖玻片的光，其中被所述物体反射的光包括具有所述第一偏振的光和具有与所述第一偏振正交的第二偏振的光；以及

在所述模块中选择性地检测被所述物体反射并且具有所述第二偏振的光。

14.根据权利要求13所述的方法，包括将由光发射元件发射的光转换成具有所述第一偏振的偏振光，其中所述转换在使光透射通过所述盖玻片之前发生。

15.根据权利要求13或14所述的方法，包括选择性地阻挡被所述物体反射并且穿过所述盖玻片的光，其中被阻挡的光具有所述第一偏振，并且其中所述阻挡在检测具有所述第二偏振的光之前发生。

16.根据权利要求13至15中任一项所述的方法，其中透射通过所述盖玻片的光具有第一线性偏振。

17.根据权利要求16所述的方法，其中选择性地检测的光具有与所述第一线性偏振正交的第二线性偏振。