[发明专利]用于识别至少一种材料特性的检测器

权利要求书

1.一种用于识别至少一种材料特性m的检测器(110)，包括：

-至少一个传感器元件(116)，其包括光学传感器(120)的矩阵(118)，所述光学传感器(120)各自具有光敏区域(122)，其中，所述传感器元件(116)被配置为记录源自至少一个对象(112)的光束的至少一个反射图像；

-至少一个评估装置(132)，其被配置为通过对所述反射图像的至少一个束轮廓的评估来确定所述材料特性，

其中，所述评估装置(132)被配置为通过将至少一个距离相关的图像滤波器Ф₁应用于所述反射图像来确定至少一个距离特征其中，所述距离相关的图像滤波器是选自包括以下项的组中的至少一种滤波器：光子深度比滤波器；离焦深度滤波器；或其线性组合；或者是另一距离相关的图像滤波器其通过来与所述光子深度比滤波器和/或所述离焦深度滤波器或其线性组合相关，其中，Ф_z是所述光子深度比滤波器或所述离焦深度滤波器或其线性组合中的一者，

其中，所述评估装置(132)被配置为通过将至少一个材料相关的图像滤波器Ф₂应用于所述反射图像来确定至少一个材料特征其中，所述材料相关的图像滤波器是选自包括以下项的组中的至少一种滤波器：亮度滤波器；光斑形状滤波器；平方范数梯度；标准偏差；平滑滤波器，诸如高斯滤波器或中值滤波器；基于灰度级发生的对比度滤波器；基于灰度级发生的能量滤波器；基于灰度级发生的同质性滤波器；基于灰度级发生的相异滤波器；劳氏能量滤波器；阈值区域滤波器；或其线性组合；或者是另一材料相关的图像滤波器其通过来与所述亮度滤波器、所述光斑形状滤波器、所述平方范数梯度、所述标准偏差、所述平滑滤波器、所述基于灰度级发生的能量滤波器、所述基于灰度级发生的同质性滤波器、所述基于灰度级发生的相异滤波器、所述劳氏能量滤波器、或所述阈值区域滤波器、或其线性组合中的一者或多者相关，其中Ф_m是所述亮度滤波器、所述光斑形状滤波器、所述平方范数梯度、所述标准偏差、所述平滑滤波器、所述基于灰度级发生的能量滤波器、所述基于灰度级发生的同质性滤波器、所述基于灰度级发生的相异滤波器、所述劳氏能量滤波器、或所述阈值区域滤波器、或其线性组合中的一者，

其中，所述评估装置(132)被配置为通过评估所述距离特征和所述材料特征来确定纵坐标z和所述材料特性m。

2.根据前一权利要求所述的检测器(110)，其中，所述材料相关的图像滤波器是通过假设检验的至少一个滤波器，其中，所述假设检验使用所述滤波器不区分材料分类器的零假设和所述滤波器区分至少两个材料分类器的替代假设，其中，如果p值p小于或等于预定义的显著性水平，则所述滤波器通过所述假设检验。

3.根据前一权利要求所述的检测器(110)，其中，p≤0.075，优选地，p≤0.05，更优选地，p≤0.025，最优选地，p≤0.01。

4.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中，所述至少一种材料特性是选自包括以下项的组中的特性：散射系数、半透明度、透明度、与朗伯表面反射的偏差、散斑等。

5.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中，所述另一距离相关的图像滤波器通过来与所述距离相关的图像滤波器Ф_z中的一个或多个相关，优选地，

6.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中，所述另一材料相关的图像滤波器通过来与所述材料相关的图像滤波器Ф_m中的一个或多个相关，优选地，

7.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中，所述材料特性m和/或所述纵坐标z通过使用与z、m之间的预定关系来确定。

8.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中，所述材料特性m和/或所述纵坐标z由函数z和/或m确定。