[实用新型]一种光激励红外热成像无损检测系统有效
申请号: | 202023325093.5 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN214122075U | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 高斌;朱玉玉;康玉宽 | 申请(专利权)人: | 四川沐迪圣科技有限公司 |
主分类号: | G01N25/72 | 分类号: | G01N25/72 |
代理公司: | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 张巨箭 |
地址: | 610000 四川省成都市中国(四川)自由*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激励 红外 成像 无损 检测 系统 | ||
本实用新型公开了一种光激励红外热成像无损检测系统,属于测试技术领域,系统包括激励源模块,激励源模块包括外罩、设于外罩内部的聚光罩和头部伸入至聚光罩的热像仪,聚光罩内设有卤素灯构成光阵,集成化高,便携性强,能够同时实现被测试件的加热处理以及红外检测,避免了先加热再检测出现的误差,检测精度大幅提高。同时,通过聚光罩对卤素灯发出的激励光进行汇聚,且聚光罩设于外罩内部,能够提高对激励光的汇聚效果。
技术领域
本实用新型涉及测试技术领域,尤其涉及一种光激励红外热成像无损检测系统。
背景技术
红外热成像检测技术是一种多学科交叉、多领域应用的新型无损检测技术。红外热成像检测技术的研究,对风洞压缩机叶片的表面扫查、航空航天设备外壳、石油化工管道、电力输送设备、机械、轨道交通和新能源等领域都具有重要意义。
红外热成像检测技术的基本原理是:通过特定的光激励模式加热被测试件,由于被测试件本身存在不连续性缺陷,会对热传递性能产生影响,使得被测试件表面产生温度差,进而导致被测试件表面的红外辐射能力产生差异。然后,利用红外热像仪对被测试件的辐射分布进行探测,通过采集的热像图序列,再通过相对应的寻优图像处理算法就可得到被测试件内部缺陷特征信息。
然而,现有红外热成像检测过程中,加热和检测需要通过两个步骤实现,即需要对被测试件先进行加热处理,然后利用红外热像仪对被测试件进行探测。在这个过程中,由于两个步骤是分开进行的,加热后的被测试件随时间流逝会快速流失热量,这就导致后续的红外热成像检测的结果会出现一定的误差,尤其是在检测风洞叶片等较为精密的零部件时,这样的误差是十分致命的。其次,现有红外热成像检测装置还存在对激励光的汇聚效果不理想、集成度不够高的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术中无法同时实现对被测试件的加热和检测,以及对激励光的汇聚效果不理想、集成度不够高的问题,提供了一种光激励红外热成像无损检测系统。
本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:一种光激励红外热成像无损检测系统,系统具体包括激励源模块,激励源模块包括外罩、设于外罩内部的聚光罩和头部伸入至聚光罩的热像仪,聚光罩内设有卤素灯构成光阵。
作为一选项,所述系统还包括激励源管理模块,激励源管理模块包括工控机、控制单元和信号发生单元;热像仪、工控机、控制单元、信号发生单元和光阵顺次连接,且工控机与控制单元双向连接。
作为一选项,所述聚光罩顶部经连接板固定于外罩内部,连接板设有与热像仪头部适配的连接孔,聚光罩顶部设有与热像仪检测窗口对应的检测孔。
作为一选项,所述聚光罩内的卤素灯均匀分布。
作为一选项,所述激励源模块还包括加长罩,加长罩设于外罩下方,加长罩顶部开设有与聚光罩底部适配的窗口,且加长罩与聚光罩的光辐射窗口同向。
作为一选项,所述外罩上设有第一风扇。
作为一选项,所述外罩上连接有可握持把手。
作为一选项,所述外罩顶部设有显示器,显示器与工控机双向连接。
作为一选项,所述激励源管理模块包括机箱,工控机设有机箱内;机箱上集成有与可握持把手内数据线、电源线对应的接口。
作为一选项,所述信号发生单元包括模式切换与驱动控制电路、低频正弦电路和脉冲产生电路,控制单元经模式切换与驱动控制电路分别与低频正弦电路、脉冲产生电路连接,低频正弦电路、脉冲产生电路之间经转换单元连接,模式切换与驱动控制电路输出端连接至转换单元,脉冲产生电路输出端连接至光阵。
需要进一步说明的是,上述系统各选项对应的技术特征可以相互组合或替换构成新的技术方案。
与现有技术相比,本实用新型有益效果是:
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