[实用新型]一种测试工装

说明书

本实用新型公开了一种测试工装，包括底板和载板，其特征是，还包括压紧模块和卡扣模块，所述载板固定于底板上，载板上设有放置槽，所述放置槽边缘设有若干定位块，所述压紧模块和卡扣模块分别设置在载板两端的底板上，所述压紧模块一端与底板铰接，卡扣模块扣住压紧模块另一端使压紧模块与载板紧贴，卡扣模块松开时压紧模块可绕铰接处转动，压紧模块，包括压板、旋转块和挡板，所述压板上设有通槽，所述旋转块设于通槽内。压紧模块采用旋转块与压板配合压紧待测模块，保证压板对待测模块压力均衡；防止槽周边设有定位块，耐磨度高，提高载板使用寿命，提高测试一次性通过率；卡口模块和压紧模块配合放置取出模块，提高测试效率，节省工时。

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置领域，尤其涉及一种测试工装。

背景技术

功能测试是指对测试目标提供模拟的运行环境，使其工作于各态，从而获取到各个状态的参数来检验待测目标的功能好坏的测试方法，PCB功能测试，需将PCB板放置在测试治槽位中，压紧PCB板使探针与PCB板测试点充分接触，然后进行测试，例如，一种在中国专利文献上公开的“一种低成本测试”，其公告号CN209690360U，包括括底板，所述底板上设置有用于放置衬板的衬板槽，所述衬板槽上可拆卸连接有载板，所述载板上表面设置有用于放置待测试电路板的放置槽，所述放置槽底板设置有若干个探针孔，所述探针孔中设置有若干个双头探针，所述双头探针的一端与衬板相抵触，另一端与待测试电路板相抵触；所述底板上还设置有用于压紧待测试电路板的夹手。本实用新型结构简单，零件数量少，制造成本低，有利于进行大规模推广使用；本实用新型整体重量轻，便于搬运。上述技术方案夹手将待测电路板与放置槽压紧时电路板受力不均匀，存在测试时局部接触不良，受力不垂直容易损坏测针的问题，载板易磨损导致定位不准确的问题。

发明内容

本实用新型是为了解决现有技术的压紧机构向待测模块施力不均，载板易磨损，测试稳定性差的问题，提供一种压力均衡，载板不易磨损，使用寿命长，测试状态稳定的测试工装。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种测试工装，包括底板和载板，其特征是，还包括压紧模块和卡扣模块，所述载板固定于底板上，载板上设有放置槽，所述放置槽边缘设有若干定位块，所述压紧模块和卡扣模块分别设置在载板两端的底板上，所述压紧模块一端与底板铰接，卡扣模块扣住压紧模块另一端使压紧模块与载板紧贴，卡扣模块松开时压紧模块可绕铰接处转动。待测模块测点朝向放置槽底面置入放置槽内，定位模块防止待测模块偏移，压紧模块下压到位时，卡扣模块自动将压紧模块卡住，即可测试，测试完成后，手动松开卡扣模块，压紧模块弹起，手动归置压紧模块，即可取出待测模块，完成测试，所述定位块采用陶瓷片，定位块镶嵌在陶瓷放置槽四边，增加定位槽耐磨度，提高载板使用寿命，提高测试一次性通过率，节省工时。

作为优选，所述压紧模块，包括压板、旋转块和挡板，所述压板上设有通槽，所述旋转块设于通槽内，旋转块两端与通槽侧壁转动连接，所述挡板盖在通槽上方与通槽两侧压板固定连接。压紧模块下压时过程中，旋转块始终是活动的，直至完全压平时压紧模块压紧待测模块。

作为优选，所述卡扣模块包括卡座和分别设于卡座两端的卡舌和按压扣，所述卡座与底板固定连接，所述卡舌可沿远离压板方向收缩，下压按压扣时卡舌往上抬起。待测模块放置好后，压紧模块下压，压紧模块的压板前端与卡舌接触，卡舌受压后退，直至压板压到位时卡舌回弹卡在压板上方扣住压板，采用卡舌固定下压的压板，减小下压和抬起时的横向力，提高工装稳定性。

作为优选，所述放置槽底面设有若干探针孔，所述探针孔沿放置槽底面厚度方向贯穿，所述探针孔内设有探针。所述探针为弹性探针，放置槽空置状态下，探针头部高于放置槽底面，待测模块安置压紧好后，探针受压力回缩，防止损坏待测模块的测点，同时又保证探针与测点接触良好，提高测试稳定性。