[实用新型]一种雷击浪涌测试装置

说明书

本实用新型涉及一种雷击浪涌测试装置，用于对待测设备进行雷击浪涌测试，包括CPU主控器、高压模块、动作主开关模块、波形产生模块、波形采集模块、输入装置、显示装置、存储装置和报警装置；波形产生模块与待测设备连接，施加浪涌脉冲至待测设备，波形采集模块与待测设备连接，采集进入待测设备前后的浪涌脉冲波形数据。与现有技术相比，本实用新型通过波形采集模块，采集进入待测设备前的浪涌脉冲波形数据和通过待测设备后的浪涌脉冲波形数据，可以对测试过程中待测设备的失效过程进行分析，也可以对测试过程中的异常进行判断和分析，改进了高压模块、动作主开关模块、波形采集模块，提升了雷击浪涌测试装置的性能。

技术领域

本实用新型涉及雷击浪涌测试领域，尤其是涉及一种雷击浪涌测试装置。

背景技术

随着社会的进步和技术的进步，人们在使用电子设备时，越来越重视安全和产品的稳定性。而电子设备会因为设备开关、静电放电、电路故障、雷击等产生浪涌，对电子设备会造成一定的损害，其中雷击对电子设备的破坏性为最大，因此测试电子设备的抗雷击浪涌能力是评估其产品性能的一个重要因素。但是现有的的电子产品雷击浪涌测试项目中，往往只给出测试结果，不能监控测试过程中浪涌脉冲的变化，也就无法得知不同的浪涌脉冲对电子产品的影响，当待测设备在测试过程中出现短路、断路等异常情况时，也无法得知具体情况。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种雷击浪涌测试装置，通过波形采集模块，采集进入待测设备前的浪涌脉冲波形数据和通过待测设备后的浪涌脉冲波形数据，可以对测试过程中待测设备的失效过程进行分析，也可以对测试过程中的异常进行判断和分析。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种雷击浪涌测试装置，用于对待测设备进行雷击浪涌测试，包括CPU主控器、高压模块、动作主开关模块、波形产生模块和波形采集模块，所述CPU主控器分别与高压模块、动作主开关模块、波形产生模块和波形采集模块连接，所述动作主开关模块分别与高压模块和波形产生模块连接，所述波形产生模块与待测设备连接，用于施加浪涌脉冲至待测设备，所述波形采集模块与待测设备连接，用于采集进入待测设备前的浪涌脉冲波形数据和通过待测设备后的浪涌脉冲波形数据；

还包括与CPU主控器连接的输入装置、显示装置、存储装置和报警装置；

所述高压模块包括电容、充电电路和电压反馈电路，所述电压反馈电路用于采集电容的电压U_C并将其发送至CPU主控器，所述CPU主控器用于根据电容的电压U_C和CPU主控器的设定电压U_S导通充电电路或断开充电电路；

所述动作主开关模块包括开关驱动电路和主开关，所述开关驱动电路用于根据CPU主控器的控制信号导通或断开主开关，所述主开关被配置为将高压模块的高压接入波形产生模块；

所述波形采集模块包括电压衰减电路和电流衰减电路；

所述输入装置用于输入控制命令至CPU主控器，所述控制命令包括设定电压U_S；

所述显示装置用于显示雷击浪涌测试装置的工作参数，所述工作参数包括设定电压U_S和浪涌脉冲波形数据；

所述存储装置用于存储浪涌脉冲波形数据；

所述报警装置用于根据CPU主控器的控制信号发出报警信号。

进一步的，所述主开关为IGBT。

进一步的，浪涌脉冲波形数据包括电压波形峰值、电流波形峰值、电压波形上升时间、电流波形上升时间、电压波形半峰时间、电流波形半峰时间中的一种或多种。

进一步的，所述输入装置为键盘。

进一步的，所述显示装置为液晶显示屏。