[实用新型]测试结构

说明书

本实用新型公开一种测试结构，用于检测PCB板，其中，测试结构包括基板，承载组件，承载组件设置在基板上，承载组件用以放置PCB板；以及检测组件，检测组件包括驱动件、限位组件、活动组件，驱动件与限位组件固定连接，活动组件与限位组件活动连接，活动组件具有用于检测的探针；其中，活动组件和承载组件之间设置有导向机构，限位组件和活动组件之间设置调节件，在驱动件的驱动下，活动组件靠近承载组件，承载组件与活动组件通过导向机构进行对位，并且活动组件通过调节件相对于限位组件移动，以使得探针能够与PCB板上的检测点接触。本实用新型技术方案不仅能提高探针的对准精度，还能减少工装对位的时间。

技术领域

本实用新型涉及电路板测试的技术领域，特别涉及一种测试结构。

背景技术

随着电子产品技术的飞速发展，市场上对产品的测试也越发重视，对于产品的测试，市场上有各种各样的测试装置，但是大都存在工装对位校准时间长或者定位不精准，导致产品测试时工装定位效率不高的现状。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种测试结构，旨在提高探针的对准精度，并减少工装对位的时间。

为实现上述目的，本实用新型提出的一种测试结构，用于检测PCB板，所述测试结构包括：基板；

承载组件，所述承载组件设置在所述基板上，所述承载组件用以放置所述PCB板；以及

检测组件，所述检测组件包括驱动件、限位组件、活动组件，所述驱动件与所述限位组件固定连接，所述活动组件与所述限位组件活动连接，所述活动组件具有用于检测的探针；

其中，所述活动组件和所述承载组件之间设置有导向机构，所述限位组件和所述活动组件之间设置调节件，在所述驱动件的驱动下，所述活动组件靠近所述承载组件，所述承载组件与所述活动组件通过所述导向机构进行对位，并且所述活动组件通过所述调节件相对于所述限位组件移动，以使得所述探针能够与所述PCB板上的检测点接触。

可选地，所述限位组件包括固定件，所述活动组件包括针板，所述调节件包括第一调节件，所述第一调节件安装于所述针板和所述固定件的其中之一，并与其中之另一抵持，所述导向机构包括第一导向机构，所述第一导向机构包括第一导柱和第一导套，所述第一导柱安装于所述针板上，所述第一导套安装于所述承载组件上，所述固定件安装于所述基板，所述针板位于所述承载组件下方。

可选地，所述针板分为探针固定部和支撑部，所述探针固定部设有凹槽，所述凹槽用于安装所述探针；所述探针固定部与所述支撑部通过连接件连接，所述支撑部可活动连接于所述固定件。

可选地，所述限位组件还包括托板件，所述活动组件还包括压板，所述压板安装有所述探针，所述驱动件与所述托板件固定连接，所述调节件包括第二调节件，所述第二调节件安装于所述托板件和所述压板的其中之一，并与其中之另一抵持，所述导向机构包括第二导向机构，所述第二导向机构包括第二导柱和第二导套，所述第二导柱安装于所述压板上，所述第二导套安装于所述承载组件上。

可选地，所述压板靠近所述承载组件的表面设有多个压柱，所述压柱在所述驱动件的驱动下顶抵所述承载组件，以使所述承载组件朝向所述针板运动。

可选地，所述第一导柱和所述第一导套为间隙配合，所述第二导柱和所述第二导套也为间隙配合。

可选地，所述第一调节件与所述第二调节件的结构相同，其中，所述第一调节件包括壳体、弹簧和钢珠，所述弹簧收容于所述壳体，所述钢珠与所述壳体活动连接并且与所述弹簧抵接；

所述第一调节件的壳体与所述针板和所述固定件二者的其中之一紧固连接，所述第一调节件的钢珠抵持于二者的其中之另一，所述第二调节件的壳体与所述压板和所述托板件二者的其中之一紧固连接，所述第二调节件的钢珠抵持于二者的其中之另一。