[实用新型]一种测试探针卡

说明书

本实用新型公开了一种测试探针卡，包括基板，所述基板上设置有测试通槽、主板和多根测试缆线，所述主板和测试缆线分别设置于基板两侧，所述测试通槽位于主板一侧，所述主板上设置有多个通过焊线连接的探针焊孔和金属触片，所述测试缆线一端与探针焊孔连接，所述基板上滑动设置有引导板，所述金属触片与探针一端接触，所述探针另一端与引导板接触，所述引导板上设置有多个引脚，所述引脚位于测试通槽内并能与待测电子元器件接触，提高测试稳定性并减少成本。

技术领域

本实用新型涉及探针卡技术领域，尤其涉及一种测试探针卡。

背景技术

探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，连接测试机和芯片后通过传输信号对芯片参数进行测试，利用探针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触，引出芯片讯号，再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的。

但现有的探针卡测试PCB板多为测试缆线与探针分别与探针焊孔两端连接，需要根据主板的宽度调整探针的长度，不仅稳定性较差且原材料的耗费较大。

实用新型内容

为克服上述缺点，本实用新型的目的在于提供一种提高测试稳定性并减少成本的测试探针卡。

为了达到以上目的，本实用新型采用的技术方案是：一种测试探针卡，包括基板，所述基板上设置有测试通槽、主板和多根测试缆线，所述主板和测试缆线分别设置于基板两侧，所述测试通槽位于主板一侧，所述主板上设置有多个通过焊线连接的探针焊孔和金属触片，所述测试缆线一端与探针焊孔连接，所述基板上滑动设置有引导板，所述金属触片与探针一端接触，所述探针另一端与引导板接触，所述引导板上设置有多个引脚，所述引脚位于测试通槽内并能与待测电子元器件接触。

进一步地，所述主板和引导板的数量均为两个，所述引导板位于测试通槽与主板之间，所述基板上设置有两个滑槽，所述引导板与滑槽滑动连接且两个引导板之间能做相互靠近/远离的水平运动，能够根据待测电子元器件的大小改变引脚与其之间的距离。

进一步地，所述基板上设置有多个安装槽和连接板，所述安装槽和连接板数量相等且一一对应，所述连接板一端与基板固定连接，另一端上设置有橡胶气囊并能通过橡胶气囊与安装槽活动连接，所述安装槽包括相连通的多个限位槽，每两个所述限位槽之间设置有挡板，所述橡胶气囊与限位槽的尺寸相匹配，所述基板与连接板之间具有一定间距并形成放置区域，多根所述测试缆线均穿过放置区域，能够根据测试缆线的数量改变放置区域的大小，便于测试缆线放置的稳定性。

进一步地，所述橡胶气囊的底部呈弧形结构且顶部呈平行结构，所述橡胶气囊的顶部通过支撑块与连接板固定连接，提高橡胶气囊的安装使用稳定性。

进一步地，所述主板包括电源层、一号信号层、地层与二号信号层，所述一号信号层固定安装在电源层的上端外表面，所述地层固定安装在电源层的下端外表面，所述二号信号层固定安装在地层的下端外表面，可以增强探针卡测试数据的准确性。

进一步地，所述基板上设置有多个安装孔且安装孔内设置有螺纹，利用安装座将主板安装在测试机器上，便于基板的拆卸安装。

进一步地，所述引导板包括第一引导板和第二引导板，所述第一引导板和第二引导板之间通过支撑部和连接针进行连接，所述第一引导板和第二引导板上分别设置有第一插入通道和第二插入通道，所述探针一端穿过第一插入通道并位于第一引导板和第二引导板之间，所述引脚一端穿过第二插入通道与探针接触，便于第一引导板和第二引导板之间的拆卸安装。

进一步地，所述第一引导板和第二引导板之间设置有连接限位件，所述连接限位件呈凸字形且底部与第二引导板连接，所述连接限位件具有限位通孔且探针与引脚的接触部位于限位通孔内，提高探针与引脚之间接触稳定性。

本实用新型提供的一种测试探针卡，其有益效果是：