[实用新型]一种8SITE并联测试编带结构

权利要求书

1.一种8SITE并联测试编带结构，包括底座(1)、电机(4)，其特征在于：所述底座(1)的顶部固定安装有一号卷轮(2)与二号卷轮(3)，所述底座(1)的顶部固定安装有位于一号卷轮(2)与二号卷轮(3)之间的固定架(10)，所述一号卷轮(2)上活动卡接有编带卷(8)，所述编带卷(8)的顶部固定安装有芯片(9)，所述编带卷(8)的一端穿过固定架(10)与二号卷轮(3)固定连接，所述二号卷轮(3)的后侧固定安装有二号传动轮(6)，所述电机(4)的输出端固定安装有一号传动轮(5)，所述一号传动轮(5)通过皮带(7)与二号传动轮(6)传动连接，所述固定架(10)内活动卡接有测试板(14)，所述测试板(14)上开设有芯片槽(13)，所述测试板(14)的底部固定安装有金属片(18)，所述固定架(10)的正面开设有两个滑动槽(20)，两个所述滑动槽(20)内设有握把(16)，所述握把(16)的两端与测试板(14)的正面固定连接，所述固定架(10)的顶部固定安装有两个顶板(12)，所述固定架(10)与两个顶板(12)之间设有弹簧(11)，且弹簧(11)的两端分别与固定架(10)与两个顶板(12)固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种8SITE并联测试编带结构，其特征在于：所述固定架(10)的前后内壁均开设有限位槽(17)，且限位槽(17)从顶板(12)的下方开始开设，开设至固定架(10)的底面处，所述测试板(14)的前后壁均设有凸块(19)。

3.根据权利要求2所述的一种8SITE并联测试编带结构，其特征在于：所述限位槽(17)与凸块(19)活动卡接。

4.根据权利要求1所述的一种8SITE并联测试编带结构，其特征在于：所述金属片(18)贯穿芯片槽(13)底脚，且金属片(18)位于芯片槽(13)底脚的中段。

5.根据权利要求1所述的一种8SITE并联测试编带结构，其特征在于：所述芯片槽(13)的顶部均固定安装有指示灯(15)，且指示灯(15)都位于芯片槽(13)的中轴线上。

6.根据权利要求1所述的一种8SITE并联测试编带结构，其特征在于：所述芯片槽(13)的数量为8个，且8个芯片槽(13)的大小与编带卷(8)上的芯片(9)相适配。